高性能雙束聚焦離子束顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年1月8日啟用。
基本介紹
- 中文名:高性能雙束聚焦離子束顯微鏡
- 產地:捷克
- 學科領域:材料科學
- 啟用日期:2016年1月8日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器
高性能雙束聚焦離子束顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年1月8日啟用。
高性能雙束聚焦離子束顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年1月8日啟用。技術指標Extreme high resolution (XHR) with sub-nanometer resolution fro...
雙束聚焦離子束顯微鏡是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器,於2012年5月10日啟用。技術指標 加速電壓:30KV;電子束放大倍率:200K;離子束放大倍率:50K;電子束高真空:<4e-10;離子束高真空:5e-6;樣品最大尺寸:4*4cm。主要...
在新型的聚焦離子束顯微鏡,已出現的雙束(Dual Beam)的機型(離子束+電子束),在以離子束切割時,用電子束觀察影像,除了可避免離子束繼續 "破壞現場" 外,尚可有效的提高影像解析度,同時也可配備X-光能譜分析儀或二次離子質譜儀...
聚焦離子束工作原理和構造 FIB系統主要由離子源、離子光學系統、二次粒子探測器、真空系統和輔助氣體系統組成。商用機型有單束( single beam)和雙束(dual beam,離子束+電子束)兩類。商用系統的離子源為液相金屬離子源(liquid metal ...
其基本功能可概括為: 定點切割, 選擇性的材料蒸鍍,強化性蝕刻或選擇性蝕刻, 蝕刻終點偵測。在透射電鏡試樣製作方面,聚焦離子束顯微鏡是一個優越的手段,能在較短的時間內與高成功率完成。
Tecnai 系列透射電子顯微鏡旨在滿足材料科學, 生命科學和軟物質研究、半導體和數據存儲行業以及世界各地頂級多用戶實驗室對高襯度成像的需求。DualBeam™ 儀器 (FIB/SEM)結合了聚焦離子束和掃描電子顯微鏡。FEI 的雙束 (DualBeam) 儀器...
金鑒分析測試中心有9台電鏡,其中透射電鏡(TEM)2台、雙束聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM)3台、掃描電鏡(SEM)7台,另外還配置了超音波掃描顯微鏡(SAT)、顯微紅外光譜儀(Micro FTIR)、X光檢查儀、氬離子拋光儀(CP)、全套的熱分析...