高分辨原子力顯微鏡

高分辨原子力顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的計量儀器，於2011年12月15日啟用。

基本介紹

• 中文名：高分辨原子力顯微鏡
• 產地：美國
• 學科領域：物理學、材料科學
• 啟用日期：2011年12月15日
• 所屬類別：計量儀器 > 長度計量儀器 > 原子力顯微鏡

技術指標

縱向RMS 0.3 Å (垂直方向)，橫向解析度：0.2nm (XY方向)，可得到穩定的雲母及石墨原子像。

主要功能

表面粗糙度分析。