顯微觀察和測量系統是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2016年9月30日啟用。
基本介紹
- 中文名：顯微觀察和測量系統
- 產地：日本
- 學科領域：材料科學
- 啟用日期：2016年9月30日
- 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 雷射共焦顯微鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
5nm-100nm精度表面顯微觀測。
主要功能
顯微觀測。
顯微觀察和測量系統
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