顯微雷射都卜勒測試系統

顯微雷射都卜勒測試系統是一種用於信息科學與系統科學、物理學、工程與技術科學基礎學科領域的物理性能測試儀器，於2011年8月31日啟用。

基本介紹

• 中文名：顯微雷射都卜勒測試系統
• 產地：美國
• 學科領域：信息科學與系統科學、物理學、工程與技術科學基礎學科
• 啟用日期：2011年8月31日
• 所屬類別：物理性能測試儀器

技術指標

驅動電壓:幅值≤10伏;兩個通道的測量頻率範圍：0≤頻率≤1.5MHz與0≤頻率≤20MHz;測量振動位移的幅值範圍≥10皮米。

主要功能

利用雷射都卜勒原理測量結構離面振動的振幅、頻率，並可通過陣列掃描的方式得到振型圖像和振型動畫；利用頻閃成像實現面內振動的振幅、頻率測量。