矽片檢測顯微鏡是對太陽能矽片單晶矽，多晶矽進行顯微觀察的儀器。
基本介紹
- 中文名：矽片檢測顯微鏡
- 型號：GPM-80
- 用途：對太陽能矽片單晶矽進行顯微觀察
- 適用學科：金屬學，礦物學，精密工程學等
簡介,成像系統組成簡介,性能特點,
簡介
GPM-80 系列高倍大平台矽片檢測顯微鏡適用於對太陽能矽片單晶矽，多晶矽進行顯微觀察。本儀器配置大移動範圍的機械式載物台、落射照明器，同時還配有內置偏光觀察裝置，具有圖像清晰、襯度好，造型美觀，操作方便等特點，是單/多晶矽片、太陽能板、半導體封裝測試、積體電路、電子晶片、電路板、液晶板、鍍塗層，及其它非金屬材料等。也是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。
成像系統組成簡介
GPM-80V電腦型矽片檢測顯微鏡/GPM-80C數碼矽片檢測顯微鏡成像系統是上海巴拓儀器廠通過光電轉換與計算機，數位相機以及電視機等設備結合在一起，不僅可以在目鏡上觀察，還能在顯示螢幕上觀察實時動態圖像，還可在計算機，數位相機上將所需要的圖片進行編輯、保存和列印。還可進行單晶矽，多晶矽進行尺寸測量數據。
性能特點
配置大視野目鏡和長距平場消色差物鏡，視場大而清晰。
配置大移動範圍的載物台，能快速和慢速移動。
粗微動同軸調焦機構，粗動鬆緊可調，帶限位鎖緊裝置。
6V 20W鹵素燈,亮度可調。
三目鏡筒,可自由切換正常觀察，可進行100%透光攝影
