面陣探測器

面陣探測器是一種用於信息科學與系統科學、物理學、計算機科學技術領域的特種檢測儀器，於2006年9月29日啟用。

基本介紹

• 中文名：面陣探測器
• 產地：美國
• 學科領域：信息科學與系統科學、物理學、計算機科學技術
• 啟用日期：2006年9月29日
• 所屬類別：特種檢測儀器 > 射線檢測儀器 > 工業X光機

技術指標

射線接收屏尺寸24.4×19.15cm,像素尺寸12m2,能量範圍70--1000kv,極限解析度3.94lp/mm。

主要功能

x射線成像。