非接觸測量系統是一種用於自然科學相關工程與技術領域的物理性能測試儀器,於2015年6月17日啟用。
基本介紹
- 中文名:非接觸測量系統
- 產地:德國
- 學科領域:自然科學相關工程與技術
- 啟用日期:2015年6月17日
- 所屬類別:物理性能測試儀器
非接觸測量系統是一種用於自然科學相關工程與技術領域的物理性能測試儀器,於2015年6月17日啟用。
非接觸測量系統是一種用於自然科學相關工程與技術領域的物理性能測試儀器,於2015年6月17日啟用。技術指標雷射強度1mW,雷射等級2級,保證人眼安全,符合相關國際或國家標準;近距離光學頭:解析度≤0.05微米/秒(1HZ...
非接觸式測量系統 非接觸式測量系統是一種用於航空、航天科學技術領域的科學儀器,於2015年12月23日啟用。技術指標 測量誤差1mm。主要功能 快速獲取大規模場景點雲數據。
系統識別測量物體表面結構的數字圖像,為圖像像素計算坐標,測量工程的第一個圖像表示為未變形狀態。在被測物體變形過程中或者變形之後,採集連續的圖像。系統比較數字圖像並計算物體紋理特徵的位移和變形。該系統特別適合測量靜態和動態載荷下...
非接觸應變測量系統是一種用於工程與技術科學基礎學科、力學、機械工程領域的物理性能測試儀器,於2015年12月06日啟用。技術指標 (1)系統應變測量精度:≤50με;應變測量範圍: 0.005%~≥2000%;(2)系統位移測量精度: ≤0.01...
非接觸式應變測量系統是一種用於力學、物理學、水利工程領域的物理性能測試儀器,於2016年05月18日啟用。技術指標 解析度和對應採集頻率:1024 × 1024@2000fps, 512× 512@6000fps; 測量面積:1×1m2到10×10m2; 應變測量範圍:...
PMLAB DIC-3D是中國科學技術大學與東南大學共同開發的非接觸式三維應變光學測量系統。系統採用非接觸式光學測量方法,可準確測量物體的空間三維坐標,以及在和作用下的位移及應變等數據。系統介紹 DIC-3D系統是非接觸式的光學三維應變測量...
非接觸式應變位移測量系統是一種用於測繪科學技術領域的電子測量儀器,於2015年10月1日啟用。技術指標 (1)測量精度: 像素解析度:1/1000個像素;大型結構測量的位移解析度: 0.012毫米(採用50mm焦距的鏡頭,10米的測量距離,被測...
非接觸式位移測量系統 非接觸式位移測量系統是一種用於物理學領域的計量儀器,於2011年9月1日啟用。技術指標 非接觸、三維測量。主要功能 非接觸式應變、位移測量。
基於光熱誘導共振(O-PTIR)技術,美國PSC 公司(Photothermal Spectroscopy Corp)推出的非接觸亞微米分辨紅外拉曼同步測量系統突破了傳統紅外的光學衍射極限,空間解析度高達500 nm,可以用來表征亞微米尺度下樣品表面微小區域的化學信息。簡介 ...
非接觸雷達測量系統是一種用於物理學、水利工程領域的物理性能測試儀器,於2018年01月08日啟用。技術指標 距離精度:1.2mm+10ppm, 角度精度:角度精度8″/8″(垂直/水平), 範圍噪音:噪音精度≤0.4毫米@10m, 標靶獲取精度≤2...
非接觸式三維非球面光學面形測量系統是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的科學儀器,於2018年6月15日啟用。技術指標 1、球面面形(PV)精度≤50nm; 2、半徑測量精度△R/R≤0.01%。主要功能 光學參數測試。
非接觸式光學測量系統 非接觸式光學測量系統是一種用於能源科學技術領域的物理性能測試儀器,於2018年12月18日啟用。技術指標 5μm-5cm/0-15m/s。主要功能 顆粒大小、分布、速度。
非接觸式全場位移及應變測量系統是一種用於力學領域的物理性能測試儀器,於2014年7月17日啟用。技術指標 主控機:64位8核CPU處理器;DAQ:四頻道16bits解析度;CCD:最大解析度2048*2448;光學鏡頭:焦距25,50,75各兩個;專業防震鏡頭...
三維動態非接觸測量系統是一種用於機械工程領域的儀器,於2010年11月02日啟用。技術指標 核心指標:幀率10000fpm,最小檢測尺寸0.005mm。主要功能 可以在不接觸被測樣品的條件下,測量高速運動的微小型零件的動態特性。
非接觸結構變形測量系統 非接觸結構變形測量系統是一種用於土木建築工程、水利工程、交通運輸工程領域的物理性能測試儀器,於2011年3月14日啟用。技術指標 C10/TS30。主要功能 單點非接觸測量結構物的振動速度,振動測量解析度較高。
六自由度非接觸式光學測量系統是一種用於交通運輸工程領域的分析儀器,於2017年11月9日啟用。技術指標 包括OPTOTRAK定位感測器、系統控制單元、標識點、無線marker套裝、系統控制軟體等,測量範圍為1.5m至6.0m,RMS精度, 2m, x,y,0....
三維非接觸岩體參數測量系統是一種用於測繪科學技術、礦山工程技術、土木建築工程領域的物理性能測試儀器,於2012年9月25日啟用。技術指標 幾何圖像解析度是測量區域面積毫米/ 3872×2592像素。主要功能 可以提供詳細的三維圖像,並且提供三維...
非接觸式散斑全場變形和應變測量系統是一種用於力學領域的計量儀器,於2013年6月30日啟用。技術指標 應變精度0.0001%。主要功能 測量物體表面的二維、三維變形,給出物體表面在載荷作用下的位移場、應變場。
非接觸式全場3D變形及應變量測系統 非接觸式全場3D變形及應變數測系統是一種用於測繪科學技術領域的電子測量儀器,於2013年5月9日啟用。技術指標 測量範圍:mm2-m2;應變測量範圍:0.005-2000%。主要功能 非接觸測材料應變。
非接觸全場體應變測試系統是一種用於土木建築工程領域的分析儀器,於2018年10月29日啟用。技術指標 主要技術指標:可計算時間內部的3D體位移和體應變;應變測量精度50微應變(3D);應變測量範圍0.005%-2000%,位移解析度0.01像素;可...
非接觸式雷達測流系統是一種用於水利工程領域的儀器,於2015年2月15日啟用。技術指標 測速波段和頻率:Ka波段;24.16GHz 流速雷達感測器距離水面安裝高度:0.5m到30m 流速測量範圍:0.2m to 15m/s 水位測量範圍:30m,26GH在(K-...
非接觸式薄膜電阻測試系統是一種用於物理學領域的計量儀器,於2012年05月15日啟用。技術指標 方塊電阻測試範圍35mΩ/sq~3000 Ω/sq,測試標準偏差不大於0.41%,可測試晶片尺寸2~8英寸。主要功能 測試半導體樣品的薄膜電阻。
非接觸式動態應力應變測試系統是一種用於動力與電氣工程領域的分析儀器,於2016年6月24日啟用。技術指標 應變精度0.005%; 可量測應變範圍0.005%到2000%; 位移解析度0.01-0.001個像素。主要功能 用於非接觸式全場3D位移及應變測量...
《高速道岔磨耗非接觸數位化測量系統的建模與算法研究》是依託西南交通大學,由陳鵬擔任項目負責人的青年科學基金項目。項目摘要 道岔是鐵路線路的關鍵設備,對列車的通過性能和行車安全起著重要的作用。高速道岔作為高速鐵路和客運專線軌道結構...
非接觸式內彈道測試系統是一種用於信息科學與系統科學領域的儀器,於2013年11月10日啟用。技術指標 測速範圍:10m/s~3000m/s。主要功能 採用微波干涉儀體制,通過都卜勒特性實現機槍、火炮等身管武器射擊時,彈丸在膛內運動的狀態如位移...
4.水平轉換器:五孔轉換器,可對每個轉換口進行調焦和調中,以消除物鏡和轉換器的製造誤差,保證測量精度。(本項已申請專利)5.落射式照明系統:高亮度LED燈(5W)6.調焦結構:粗微動同軸調焦,帶鎖緊和限位裝置,粗動升降範圍30mm,...
非接觸式雷射掃描測振系統是一種用於機械工程領域的儀器,於1970年01月01日啟用。技術指標 寬頻寬雙通道掃描式雷射測振儀 2 通道, 1 MHz, 10 m/s 工作距離 大於0.4米(可選近掃單元close-up unit) 雷射波長 633nm 雷射保護...
磁光克爾測量系統是一種基於磁光效應原理設計的超高靈敏度磁強計,是研究磁性薄膜、磁性微結構的理想測量工具。旋轉磁光克爾效應(RotMOKE)是在磁光克爾效應測量基礎上的一種類似於轉矩測量各向異性的實驗方法,可以定量的得到樣品的磁...
SmartScope是OGP非接觸式光學測量儀器的徽標(智慧型幾何量測量系統),是美國OGP公司在全世界首創,現已被世界各大廠商所認可並逐漸成為該類型產品代名詞。OGP的Smartscope非接觸式光學測量儀利用CCD採集變焦鏡下樣品的影像,再配合XYZ軸移動平台...