非接觸式測量系統是一種用於航空、航天科學技術領域的科學儀器,於2015年12月23日啟用。
基本介紹
- 中文名:非接觸式測量系統
- 產地:美國
- 學科領域:航空、航天科學技術
- 啟用日期:2015年12月23日
非接觸式測量系統是一種用於航空、航天科學技術領域的科學儀器,於2015年12月23日啟用。
非接觸式測量系統 非接觸式測量系統是一種用於航空、航天科學技術領域的科學儀器,於2015年12月23日啟用。技術指標 測量誤差1mm。主要功能 快速獲取大規模場景點雲數據。
非接觸式應變位移測量系統是一種用於測繪科學技術領域的電子測量儀器,於2015年10月1日啟用。技術指標 (1)測量精度: 像素解析度:1/1000個像素;大型結構測量的位移解析度: 0.012毫米(採用50mm焦距的鏡頭,10米的測量距離,被測...
非接觸應變測量系統是一種用於工程與技術科學基礎學科、力學、機械工程領域的物理性能測試儀器,於2015年12月06日啟用。技術指標 (1)系統應變測量精度:≤50με;應變測量範圍: 0.005%~≥2000%;(2)系統位移測量精度: ≤0.01...
PMLAB DIC-3D是中國科學技術大學與東南大學共同開發的非接觸式三維應變光學測量系統。系統採用非接觸式光學測量方法,可準確測量物體的空間三維坐標,以及在和作用下的位移及應變等數據。系統介紹 DIC-3D系統是非接觸式的光學三維應變測量...
非接觸式三維非球面光學面形測量系統是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的科學儀器,於2018年6月15日啟用。技術指標 1、球面面形(PV)精度≤50nm; 2、半徑測量精度△R/R≤0.01%。主要功能 光學參數測試。
非接觸式應變測量系統是一種用於力學、物理學、水利工程領域的物理性能測試儀器,於2016年05月18日啟用。技術指標 解析度和對應採集頻率:1024 × 1024@2000fps, 512× 512@6000fps; 測量面積:1×1m2到10×10m2; 應變測量範圍:...
非接觸式位移測量系統 非接觸式位移測量系統是一種用於物理學領域的計量儀器,於2011年9月1日啟用。技術指標 非接觸、三維測量。主要功能 非接觸式應變、位移測量。
非接觸式全場位移及應變測量系統是一種用於力學領域的物理性能測試儀器,於2014年7月17日啟用。技術指標 主控機:64位8核CPU處理器;DAQ:四頻道16bits解析度;CCD:最大解析度2048*2448;光學鏡頭:焦距25,50,75各兩個;專業防震鏡頭...
非接觸式光學測量系統 非接觸式光學測量系統是一種用於能源科學技術領域的物理性能測試儀器,於2018年12月18日啟用。技術指標 5μm-5cm/0-15m/s。主要功能 顆粒大小、分布、速度。
非接觸式散斑全場變形和應變測量系統是一種用於力學領域的計量儀器,於2013年6月30日啟用。技術指標 應變精度0.0001%。主要功能 測量物體表面的二維、三維變形,給出物體表面在載荷作用下的位移場、應變場。
基於光熱誘導共振(O-PTIR)技術,美國PSC 公司(Photothermal Spectroscopy Corp)推出的非接觸亞微米分辨紅外拉曼同步測量系統突破了傳統紅外的光學衍射極限,空間解析度高達500 nm,可以用來表征亞微米尺度下樣品表面微小區域的化學信息。簡介 ...
1、主控機:ATA Flight Case PC Tower 系統;2、軟體包:VIC-3D 軟體包;3、系統硬體:包括測量頭、照明系統;4、附屬檔案:CSI-3D-專用輔助配套裝置。主要功能 以非接觸方式實現對被測試試件的全場應變測量,具體功能為:應變場與溫度...
伺服全站儀觀測方便,精度高,成為非接觸式收斂測量系統的首選。伺服全站儀收斂測量系統 常用伺服全站儀 TPS1200+系列:該系列的全站儀將高精度、多功能及GNSS 定位系統的軟硬體精巧集成在一起。TPS1200 + 系列全站儀主要的改進是測距部分(...
非接觸式動態應力應變測試系統是一種用於動力與電氣工程領域的分析儀器,於2016年6月24日啟用。技術指標 應變精度0.005%; 可量測應變範圍0.005%到2000%; 位移解析度0.01-0.001個像素。主要功能 用於非接觸式全場3D位移及應變測量...
非接觸式內彈道測試系統是一種用於信息科學與系統科學領域的儀器,於2013年11月10日啟用。技術指標 測速範圍:10m/s~3000m/s。主要功能 採用微波干涉儀體制,通過都卜勒特性實現機槍、火炮等身管武器射擊時,彈丸在膛內運動的狀態如位移...
非接觸式薄膜電阻測試系統是一種用於物理學領域的計量儀器,於2012年05月15日啟用。技術指標 方塊電阻測試範圍35mΩ/sq~3000 Ω/sq,測試標準偏差不大於0.41%,可測試晶片尺寸2~8英寸。主要功能 測試半導體樣品的薄膜電阻。
三坐標測量儀是指在一個六面體的空間範圍內,能夠表現幾何形狀、長度及圓周分度等測量能力的儀器,又稱為三坐標測量機或三坐標量床。三坐標測量儀可以接觸或非接觸等方式傳遞訊號,三個軸的位移測量系統(如光柵尺)經數據處理器或計算機...
4.水平轉換器:五孔轉換器,可對每個轉換口進行調焦和調中,以消除物鏡和轉換器的製造誤差,保證測量精度。(本項已申請專利)5.落射式照明系統:高亮度LED燈(5W)6.調焦結構:粗微動同軸調焦,帶鎖緊和限位裝置,粗動升降範圍30mm,...
高性能電渦流測厚儀信號處理器KD2306為軌導DIN式結構,是KD2300更新升級產品。本系統非常適合集成到OEM設備和工業控制套用中。符合環保RoHS和安全CE標準等頂極性能。主要技術特點:解析度0.1um 標準頻率50kHz(可定製更高頻率) 自行...
1.4 非接觸式測量的發展 16 2 光柵式掃描測量 17 2.1 光柵式掃描測量技術 17 2.2 ATOS 光柵式掃描測量系統 18 2.2.1 ATOS 系統組成 19 2.2.2 測量流程 20 2.3 滑鼠的功能 21 2.3.1 滑鼠左鍵和中鍵的功能 22 2....
3D非接觸式應變位移視頻測量儀是一種用於土木建築工程領域的物理性能測試儀器,於2019年5月20日啟用。技術指標 1.提供的 ARAMIS 3D 12M 系統主要通過光學 DIC(Digital Image Correlation)數字圖像相關技術以及運動跟蹤技術的採集分析系統,...
TRITOP非接觸式光學量測系統是由德國的Gom ( Gesellschaft für Optische Messtechnik mbH )所設計及生產。Gom在1990成立,迄今已有27年的時間,在歐洲地區已有6個分公司,全球超過30個經銷據點。TRITOP是一套工業用,非接觸式光學量測...
SmartScope是OGP非接觸式光學測量儀器的徽標(智慧型幾何量測量系統),是美國OGP公司在全世界首創,現已被世界各大廠商所認可並逐漸成為該類型產品代名詞。OGP的Smartscope非接觸式光學測量儀利用CCD採集變焦鏡下樣品的影像,再配合XYZ軸移動平台...