非接觸式雷射掃描測振系統

非接觸式雷射掃描測振系統是一種用於機械工程領域的儀器，於1970年01月01日啟用。

基本介紹

• 中文名：非接觸式雷射掃描測振系統
• 產地：德國
• 學科領域：機械工程
• 啟用日期：1970年01月01日

技術指標

寬頻寬雙通道掃描式雷射測振儀 2 通道， 1 MHz, 10 m/s 工作距離 大於0.4米（可選近掃單元close-up unit） 雷射波長 633nm 雷射保護等級 He-Ne雷射，保護等級二級，功率小於1mW，可視 測量對象大小 從幾平方毫米到數十平方米 掃描點數 最高可達 512 x 512。

主要功能

Polytec多功能全場掃描式雷射測振儀，是一款具有更高精度、更高測量速度、更簡捷操作的數據採集與處理的可視化快速測振工具。