基本介紹
- 中文名:電阻探針測定
- 外文名:Resistance probe measurement
- 工作原理:長度不變、直徑減小,電阻增大
- 結構:電阻探針、數據採集器、監測系統
電阻探針測定工作原理 編輯 絲狀試片腐蝕示意圖 電阻探針測量腐蝕速率是利用了在任意時刻,在電阻探針絲在長度不變的前提下,截面積與電阻的線形關係得出金屬腐蝕速率...
四探針電阻測試儀是一種測量物質的電阻的儀器。...... 四探針電阻測試儀是一種測量物質的電阻的儀器。中文名 四探針電阻測試儀 外文名 Four point resistance tes...
《矽片電阻率測定 擴展電阻探針法(GB/T 6617-2009)》測量儀器和環境增加了自動測量儀器的範圍和精度;對原測量程式進行全面修改;刪去測量結果計算。本標準由全國...
電阻率測試儀是電阻率監視儀,電阻率和溫度同時顯示,並具有電阻率低限報警功能的...電阻率測試儀RM3電阻率測武儀 編輯 RM-3是四探針法測定電阻率的儀器。它的...
四探針測試技術,簡稱為四探針法,是測量半導體電阻率最常用的一種方法。...... 四探針測試技術,簡稱為四探針法,是測量半導體電阻率最常用的一種方法。...
薄層電阻的原理進行了綜述,重點分析了常規直線四探針法、改進范德堡法和斜置式方形Rymaszewski 法的測試原理,並套用斜置式Rymaszewski 法研製成新型的四探針測試儀...
數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶矽物理測試方法國家標準並參考美國 A.S.T.M 標準而設計的,專用於測試半導體材料電阻...
對於半導體材料的電阻率,一般採用四探針、三探針和擴展電阻。 電阻率是反映半導體材料導電性能的重要參數之一。測量電阻率的方法很多,四探針法是一種廣泛採用的標準...
。當兩個探針接觸在一起時,總電阻是 ,電流是 ,歐姆計的顯示針顯示電阻為 。當顯示針在零與無窮大的中間時,電流是 。那么,總電阻是 ,測量的電阻是 。當...
方塊電阻測定 編輯 方塊電阻計算方法 方塊電阻:Rs=ρ/t(其中ρ為塊材的電阻率...但實際套用時,因針狀電極容易破壞被測試的導電薄膜材料,所以一般採用圓形探針頭。...
《區熔鍺錠電阻率測試方法 兩探針法(YS/T 602-2007)》附錄A是規範性附錄。本標準由全國有色金屬標準化技術委員會提出。本標準由全國有色金屬標準化技術委員會...
電阻測試儀使用方法1)熟讀接地電阻測量儀的使用說明書,應全面了解儀器的結構、性能及使用方法。2)備齊測量時所必須的工具及全部儀器附屬檔案,並將儀器和接地探針擦拭...
用此法測得的土壤電阻率可近似認為是被埋入探針之間區域內的平均土壤電阻率。·測地電阻、土壤電阻率所用的探針一般用直徑為25mm,長0.5~1m的鋁合金管或圓鋼。...
四探針電阻率 / 方阻測試儀(以下簡稱電阻率測試儀)是用來測量半導體材料(主要是矽單晶、鍺單晶、矽片)電阻率,以及擴散層、外延層、 ITO 導電箔膜、導電橡膠方塊...
絕緣電阻測量儀使用步驟 編輯 使用接地電阻測試儀測量步驟1)將兩個接地探針沿接地體輻射方向分別插入距接地體20m、40m的地下,插人深度為400mm,如下圖所示。...
《矽單晶電阻率測定方法(GB/T 1551-2009)》刪除了鍺單晶測定的相關內容;用文字描述代替了原標準GB/T1551-1995和GB/T1552-1995中的若干記錄測試數據的表格;修改...
探針台從操作上來區分有:手動,半自動,全自動從功能上來區分有:溫控探針台,真空探針台(超低溫探針台),RF探針台,LCD平板探針台,霍爾效應探針台,表面電阻率探針台...
擴展電阻法,是指通過測量金屬探針與半導體接觸形成的擴展電阻,根據已有的擴展電阻與電阻率的校正曲線,獲得半導體微區電阻率的電學測量技術。...
(3)儀表應具有大於500kW的輸入阻抗,以便減少因輔助極棒探針和土壤間接觸電阻引起的測量誤差。(4)儀表內測量信號的頻率應在25Hz~1kHz之間,測量信號頻率太低和太高...
接地電阻測試儀是在老式的基礎上,摒棄了傳統的人工手搖發電工作方式,採用先進的...1)將兩個接地探針沿接地體輻射方向分別插入距接地體20m、40m的地下,插人深度...
1)熟讀接地電阻測量儀的使用說明書,應全面了解儀器的結構、性能及使用方法。2)備齊測量時所必須的工具及全部儀器附屬檔案,並將儀器和接地探針擦拭乾淨,特別是接地探針,...
雙電測採用兩次測量,給不同的探針對先後通以電流,同時精確測量相應其他兩探針見電壓,根據相關公式計算出樣品電阻率。使用的探針可以有三種組合,...
實際測定時,還有各種寄生電阻帶入。為了消除測試時用的探針和金屬間的電阻,可以在測試時將電流和電壓探針分開和使用高阻抗的數字電壓表來達到;但是諸如界面下有電流...
5.3 用改進的Rymaszewski公式及方形四探針法測定微區的方電阻5.4 小結參考文獻6 探針圖像預處理及邊緣檢測7 探針的圖像侵害、定位控制與檢測精度分析8 電阻率的無...
現在,一種新的測量技術能夠將納米材料的電氣和機械特性表示為施加探針壓力的函式,為人們揭示之前無法看到的納米現象。這種納米級電接觸電阻測量工具(美國明尼蘇達州明...
攜帶型短路追蹤儀使用獨一無二的4線式電阻測量法,因此能夠消除測試探針的阻值,精確地判斷出是器件還是導線的短路。眾所周知理想的電路板導線阻值為零,但在實阻...