電感耦合電漿發射光譜-質譜儀

電感耦合電漿發射光譜-質譜儀是一種用於化學工程領域的分析儀器，於2012年6月28日啟用。

技術指標

2.1 背景：Be（9amu）≤0.5cps； 靈敏度： 低質量數: Li(7) 或Be(9) 50 Mcps/ppm； 中質量數: Y(89) 或In(115)  160 Mcps/ppm 高質量數: Tl(205) 或Bi(209)或U（238）  80 Mcps/ppm 檢出限(3sigma, 3秒積分)： 低質量數 Be(9):  0.5 ppt 中質量數 In(115):  0.1 ppt； 高質量數Bi(209)或U（238）:  0.1 ppt。

主要功能

金屬、塑膠、礦物等材料中痕量元素的精確定量分析。