電子探針顯微分析儀

電子探針顯微分析儀

電子探針顯微分析儀又稱電子探針,是較為理想的一種微區化學成分分析手段。根據高能電子與固體物質相互作用的原理,利用電子槍發射的高能量電子流通過磁透鏡聚集成直徑約0.1~1μm的電子束(電子探針)轟擊樣品表面,使樣品中被打擊的微小區域(簡稱微區)內所含元素的原子激發而產生特徵X射線譜。由於不同元素的原子結構各異,激發產生的X射線波長亦不相同。以此來測量各種元素所產生的X射線的波長和強度,來對微小體積中所含元素進行定性和定量分析。用於高分子材料中微量微區元素和雜質的濃度及其分布,添加成分的測定等。

基本介紹

  • 中文名:電子探針顯微分析儀
  • 外文名:electron-probemicroanalyzer
  • 又稱:電子探針
  • 原理:高能電子與固體物質相互作用
  • 測量:各種元素的X-射線的波長和強度
  • 對象:高分子材料
電子探針顯微分析儀的結構,電子探針顯微分析儀的分類,電子探針顯微分析儀主要部件,電子探針顯微分析儀的功能,

電子探針顯微分析儀的結構

電子探針顯微分析是利用聚焦電子束(電子探測針)照射試樣表面待測的微小區域,從而激發試樣中元素產生不同波長(或能量)的特徵X射線。用X射線譜儀探測這些X射線,得到X射線譜。根據特徵X射線的波長(或能量)進行元素定性分析;根據特徵X射線的強度進行元素的定量分析。電子探針儀由電子光學系統和x射線譜儀系統的組成。通常電子探針可以配合掃描電鏡一起使用,因此其結構可以認為是SEM與X射線譜儀的組合。

電子探針顯微分析儀的分類

常見的X射線譜儀主要有兩種,一種是利用特徵x射線的波長不同來展譜,實現對不同波長X射線分別檢測的波長色散譜儀,簡稱波譜儀,另一種是利用特徵x射線的能量不同來展譜,實現對不同能量x射線分別檢測的能量色散譜儀,簡稱能譜儀

電子探針顯微分析儀主要部件

(1)高壓電纜。
(3)陽極。
(4)合軸線圈。
(5)聚光鏡(聚透鏡)有二級。
(6)物鏡光陽。
(7)光學顯微鏡與電子光路同軸,並裝有起偏鏡和檢偏鏡可進行偏光觀察。
(8)二級偏轉線圈。功能同掃描電鏡。

電子探針顯微分析儀的功能

1、 各種電子圖象的觀察
現代電子探針X射線顯微分析儀各種電子圖象觀察的功能大大提高,凡掃描電鏡中可觀察的圖象,電子探針儀也能觀察。但電子探針設計時主要照顧到對微區進行成分分析,所以形貌圖象觀察的功能不如掃描電鏡的強。圖象解析度,清晰度都要比掃描電鏡差一些。但元素成分分析功能要比掃描電鏡強。在選用時應注意到這些差別。
2、 元素的定性分析
如果要想知道試樣中某一微區或表面層是由哪些元素組成的,那么就可以角電子探針進行定性分析。
3、 元素的定量分析

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