電子探針分析儀:1.進行1微米內B-U的各元素定量分析 2.20~20萬倍掃描圖像觀察 3.X射線能譜快速定量分析 4.陰極射線致發光分析套用範圍: 用於對地質、冶金、有色、玻璃、陶瓷、新材料、納米材料等機材料的分析。可解決地質、冶金、有色、材料、機械等領域內的許多科研、生產等重大實際問題。
基本介紹
- 中文名:電子探針分析儀
- 類型:分析儀
- 儀器類別:儀器儀表 /光學儀器
- 附屬檔案信息:能譜儀一台陰極發光一台
電子探針分析儀:1.進行1微米內B-U的各元素定量分析 2.20~20萬倍掃描圖像觀察 3.X射線能譜快速定量分析 4.陰極射線致發光分析套用範圍: 用於對地質、冶金、有色、玻璃、陶瓷、新材料、納米材料等機材料的分析。可解決地質、冶金、有色、材料、機械等領域內的許多科研、生產等重大實際問題。
電子探針分析儀:1.進行1微米內B-U的各元素定量分析 2.20~20萬倍掃描圖像觀察 3.X射線能譜快速定量分析 4.陰極射線致發光分析套用範圍: 用於對地質、冶金、有色、玻璃、陶瓷、新材料、納米材料等機材料的分析。可...
電子探針又稱微區X射線光譜分析儀、X射線顯微分析儀。其原理是利用聚焦的高能電子束轟擊固體表面,使被轟擊的元素激發出特徵X射線,按其波長及強度對固體表面微區進行定性及定量化學分析。主要用來分析固體物質表面的細小顆粒或微小區域,最...
電子探針X射線顯微分析儀,簡稱電子探針。是指以聚焦的高速電子來激發出試樣表面組成元素的特徵X射線,並根據X射線的波長和強度,對微區成分進行定性或定量分析的一種材料物理儀器。電子探針分析的原理是以電子束轟擊試樣表面,擊出表面組成...
電子探針分析是指以聚焦的高速電子來激發出試樣表面組成元素的特徵X射線,對微區成分進行定性或定量分析的一種材料物理試驗,又稱電子探針X射線顯微分析。電子探針分析的原理是:以動能為10~30千電子伏的細聚焦電子束轟擊試樣表面,擊出...
電子微探針(Electronic microprobe),結合運用電子顯微鏡技術和 X射線分光技術的電子光學式分析儀器,又稱電子微區分析儀、電子探針或電子探針X射線微區分析儀。主要特徵 在涉及研究固態試樣元素組分及濃度的二維分布時,常用的一種方法是...
電子探針(Electron Probe Microanalysis-EPMA)的主要功能是進行微區成分分析。它是在電子光學和X射線光譜學原理的基礎上發展起來的一種高效率分析儀器。其原理是:用細聚焦電子束入射樣品表面,激發出樣品元素的特徵X射線,分析特徵X射線的...
電子探針電子探針,又可以稱作探針X射線顯微分析儀或微區X射線譜分析儀。它是一種分析儀器,常用來分析薄片中礦物微區的化學組成。電子探針將高度聚焦的電子束聚焦在礦物上,激發組成礦物元素的特徵X射線,再用分光器或檢波器測定螢光X...
JJG901-1995電子探針分析儀 《JJG901-1995電子探針分析儀》是由中國計量出版社出版的書籍。2005年9月8日確認
1962 年R.卡斯塔因和G.斯洛贊在質譜法和離子顯微技術基礎上研製成了直接成像式離子質量分析器。1967 年H.利布爾在電子探針概念的基礎上,用離子束代替電子束,以質譜儀(見質譜法)代替X 射線分光計研製成掃描式離子探針質量顯微分析儀...
由於不能獲得高解析度的樣品表面電子像,SEM一直得不到發展,只能在電子探針X射線微分析儀中作為一種輔助的成像裝置。此後,在許多科學家的努力下,解決了SEM 從理論到儀器結構等方面的一系列問題。最早期作為商品出現的是1965年英國劍橋...
1962年R.卡斯塔因和G.斯洛贊在質譜法和離子顯微技術基礎上研製成了直接成像式離子質量分析器。1967年H.利布爾在電子探針概念的基礎上,用離子束代替電子束,以質譜儀(見質譜法)代替X射線分光計研製成掃描式離子探針質量顯微分析儀。儀器...
掃描電子顯微電鏡是一種用於化學學科領域的電子光學儀器,於2016年3月15日啟用。技術指標 解析度:二次電子(SE)像 15 kV時優於1.0 nm;1 kV時優於1.4 nm(非減速模式) 背散射(BSE)像: 1 kV時優於3.5 nm;15 kV時優...
微量分析儀 目錄 1 短語搭配 2 雙語例句 microanalyzer短語搭配 編輯 播報 ionoprobe microanalyzer 離子探針微區分析器 electron probe microanalyzer 電子探針微量分析器 electron probe microanalyzer epma 電子探針 [1] ...
microanalyser,英語單詞,主要用作名詞,作名詞時譯為“微量分析儀(等於microanalyzer)”。短語搭配 optical microanalyser 光學微分析器 electron probe microanalyser 電子探針顯微分析儀 ion probe microanalyser 離子探針微量分析器 electr...
電子探針顯微分析儀與掃描電子顯微鏡類似,但樣品需製成薄片或光片,解析度為1微米。主要用途是對礦物作定量化學分析,研究化學組成和微量元素含量的變化,對光片或薄片中的細小礦物作定位或就地鑑定,檢出限約為100ppm。離子探針分析儀能...
電子探針顯微分析儀與掃描電子顯微鏡類似,但樣品需製成薄片或光片,解析度為1微米。主要用途是對礦物作定量化學分析,研究化學組成和微量元素含量的變化,對光片或薄片中的細小礦物作定位或就地鑑定,檢出限約為100ppm。離子探針分析儀能...