| 中文名稱 | 電子微探針分析 |
| 英文名稱 | electron microprobe analysis |
| 定 義 | 用電子束轟擊試樣表面，使組成元素產生特徵X射線，分析波長和強度，從而獲得固體試樣中各微區內(約11m)的元素組成、含量及其分布情況的一種分析方法。 |
| 套用學科 | 材料科學技術（一級學科），材料科學技術基礎（二級學科），材料科學基礎（三級學科），材料的表征與測試（四級學科） |
| 中文名稱 | 電子微探針分析 |
| 英文名稱 | electron microprobe analysis |
| 定 義 | 用電子束轟擊試樣表面，使組成元素產生特徵X射線，分析波長和強度，從而獲得固體試樣中各微區內(約11m)的元素組成、含量及其分布情況的一種分析方法。 |
| 套用學科 | 材料科學技術（一級學科），材料科學技術基礎（二級學科），材料科學基礎（三級學科），材料的表征與測試（四級學科） |
電子微探針(Electronic microprobe),結合運用電子顯微鏡技術和 X射線分光技術的電子光學式分析儀器,又稱電子微區分析儀、電子探針或電子探針X射線微區分析儀。...
中文名稱 電子微探針分析 英文名稱 electron microprobe analysis 定義 用電子束轟擊試樣表面,使組成元素產生特徵X射線,分析波長和強度,從而獲得固體試樣中各微區...
微區成分分析(microanalysis)是指樣品表面線度約1微米的面積內進行成分分析的技術。簡稱為微(束)分析或微探針。分析結果反映由微小面積和取樣深度決定的有效探測體積...
簡介 用電子微探針和雷射微探針技術等,不破壞試樣而進行表血和一定深度的分析方法。它需要特殊的儀器。如俄歇電子光譜,x射線電光譜,二次離子質i}}透射電子顯微鏡...
電子微探針(Electron Microprobe, EMP)又稱電子探針微分析,是Castating於1948年在他的博士論文中首次提出,是結合運用電子顯微鏡技術和 X射線分光技術的電子光學式...