雷紹充

個人經歷

1990年畢業留校任教，碩士師從施仁先生，方向為自動控制專業自動測試技術與裝置。

博士師從邵志標先生，方向為微電子學專業VLSI設計、測試與可測性設計。

《VLSI測試方法與可測性設計》、《SOC測試》。

數字積體電路設計、VLSI測試與可測性設計、ECC加密算法及硬體實現電氣、儀表與計算機控制系統電子電路設計。

作者名稱：雷紹充

作者類型：

作者時間：2012年1月

《SOC測試》是2012年西安交通大學出版社出版的圖書，作者是雷紹充。本書既可作為高等院校電子與信息、計算機科學與技術和電氣工程類高年級學生和研究生的專業課教材，也可作為從事積體電路設計、製造、測試、套用、eda和ate專業人員的參考用書。

展開

目編號	項目名稱	項目來源	起訖時間	承擔角色	項目類別
SGTJ0000KXJS140006	國家電網2014科技項目《變壓器繞組變形線上監測晶片的關鍵技術研製》	國務院各部委項目	2014-1~	負責人	縱向項目
陝XXX	金融領域安全IC卡和密碼關鍵產品	其他	2013-6~	負責人	縱向項目
陝發13-8	ECC加密算法及硬體實現	其他	2013-6~	負責人	縱向項目
61306048	產品測試和BIST環境下數模混合信號積體電路頻譜測試與數據處理的理論和算法研究	國家自然科學基金項目	2013-12~	骨幹成員	縱向項目
61006033	基於軟體的同構多核處理器測試與診斷方法研究	國家自然科學基金項目	2010-12~	骨幹成員	縱向項目
20011205	電動機啟動測試分析系統	其他	2001-1~	骨幹成員	橫向項目

論文標題	作者	發表/完成日期	期刊名稱
Test patterns of multiple SIC vectors: theory and application in BIST schemes	梁峰Feng Liang; Luwen Zhang; Shaochong Lei; 等	2013-04-05	IEEE Trans. on VLSI
An Optimized Seed-based Pseudo-random Test Pattern Generator: Theory and Implementation	Sun Haijun(孫海珺), Zeng Yongjia(曾永甲), Li Pu(李璞), Lei	2011-12-17	JETTA
Design of Four-wave Oscillating Cellular-Neural-Network	Zhang Guohe(張國和), Lei SC, M Tanaka, BG Kumar	2011-06-28	IEICE
A unified solution to reduce test power and test volume for Test-per-scan schemes	Shaochong Lei, Zhen Wang(王震), Zeye Liu(劉澤葉)	2010-09-09	IEICE Electronics Express
A Low Power Test Pattern Generator for BIST	Lei SC, Feng L(梁峰), Liu ZY(劉澤葉), Wang XY(王曉瑛)	2010-05-04	IEICE Trans. Electronics
Explore the Limits to Reduce Test Power	Lei SC, Jiang ZW, and D M H Walker	2008-10-31	IEEE D3T-2008
A Class of SIC Circuits: Theory and Application in BIST Design	Lei SC, Hou XY(侯學彥), Shao ZB(邵志標), Liang Feng	2008-01-03	IEEE Trans.Circuits and System II

出版物	作者	出版日期	出版社
SOC測試	雷紹充，梁峰，張鴻，張國和	2011-12-30	西安交通大學出版社
超大規模積體電路測試	雷紹充，邵志標，梁峰	2008-05-01	電子工業出版社