雷射粒度分布儀

雷射粒度分布儀

分布儀系統是集光、機、電、計算機為一體的高科技產品,它採用進口半導體雷射器,壽命長,單色性好;先進的機械設計與加工工藝和微電子積體電路技術。

基本介紹

  • 中文名:雷射粒度分布儀
  • 測試範圍:0.1μm~500μm
  • 光 源:半導體雷射器
  • 測試方式:濕法測試
由來,產品特點,技術參數,標準物質對照,尺寸規格,

由來

高靈敏度的光電池接收系統,全程米氏理論作為
雷射粒度分布儀
基礎,結合優異的計算方法。使測試數據更加精確,快捷;是目前國內比較經濟實用的一款雷射粒度分布
儀。

產品特點

(1)功能強大的軟體系統
M314030型雷射粒度分布儀系統是集光、機、電、計算機為一體的高科
技產品,數據處理有專用的計算機分析系統軟體完成,同時由印表機完成測
試報告的輸出。
(2)獨特的光路一體化技術
最佳化的反傅立葉光學變換設計,結合獨特的光路一體化結構,使光路更
加穩定,長期使用,無須調整;先進的機械設計與加工工藝,使儀器的結構
更緊湊合理;流線型的設計,美觀大方,使用與維護更為方便;有效的禁止
與抗干擾技術,使儀器的電氣等性能更加穩定 。
(3)高靈敏大角度光電接收器陣列
獨特的光電接收器陣列設計,有效提高了儀器的解析度。主向光電接收器,共有71個光電池,最大探測角達21.5°;
非均勻交叉排列的側向光電接收器,共5個光電池,其中,最大側向角度達75°。
(4)長久耐用
採用波長635nm,功率3mw半導全雷射器,使用壽命在25000個小時以上有效提高了雷射粒度分布儀的使用和存放時間。
(5)優秀的H.Golub分布反演算法
HYL系列雷射粒度測試系統完全採用先進的全Mie散射理論作為基礎,並採用優良的H.Golub分布反演算法,結合獨
特的儀器硬體設計,使您測試的樣品無論是單分布的,還是混合的,都能夠使測試數據更加精確、快捷。
(6)輸出結果格式靈活
報告單格式的輸出格式靈活,可根據使用者的需要,編輯包括累計粒度分布數據與曲線、區間粒度分布數據與直方圖
和各種典型粒徑值等內容。
(7)符合國際標準ISO13320-1
為了滿足用戶對測試結果的準確性及重複性等可追蹤性的要求, HYL系
列雷射粒度分布儀完全符合ISO13320-1國際標準。每台雷射粒度儀都嚴格經
國家標準物質的檢驗,各項指標完全合格後方可投入市場。

技術參數

測試範圍:0.1μm~500μm
光 源:半導體雷射器(波長635 nm.功率3mw.使用壽命25000小時以上)
測試方式:濕法測試
樣品濃度:0.5‰~1%(與樣品的比重、顆粒大小、折射率有關)
測試時間:少於1分鐘/次,不含樣品分散時間
掃描速度:2000次/秒
重複性誤差:≦1%
電源:交流220V±10%50Hz或60Hz,功率:80W
微機接口:標準 RS-232串列接口
作業系統:可在Windows所有版本的作業系統下運行

標準物質對照

樣品編號
標準值(微米)
測量值(微米)
測量值2(微米)
標準值(微米)
測量值1(微米)
測量值2(微米)
粒度
19.1±1.47
19.19
19.31
2.54
2.65
D10
22.8±1.53
22.9
22.87
3.60±2.1
3.65
3.7
D16
27.0±1.80
27.46
27.66
4.80±1.5
4.69
4.71
D25
36.7±1.57
36.95
36.75
6.80±0.6
6.79
6.81
D50
44.5±1.95
45.13
45.33
9.00±1.2
9.18
9.22
D75,D84
48.9±2.73
48.36
48.42
10.50±2.1
10.45
10.56
D90
53.1±3.54
54.55
54.3
11.76
11.8

尺寸規格

620*330*248

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