雷射粒子測速系統

雷射粒子測速系統是一種用於物理學領域的雷射器，於2018年6月27日啟用。

基本介紹

• 中文名：雷射粒子測速系統
• 產地：中國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2018年6月27日
• 所屬類別：雷射器

技術指標

（a）總體指標： 測速範圍：-3~20m/s；重複性99.9%,精度優於99.9%；保證0.01m/s流速測試，測速精度優於：0.1%（流速值）+2mm/s。（b）探頭： 探頭尺寸340 mm x 130 mm x 225 mm；頭距離測試點距離（空氣）: 300 mm；雷射器能量：130 mW；雷射器波長：658 nm，包含頻移控制。（c）二維信號處理控制裝置： 處理頻率2 MHz；包含採集1維分析軟體；供電要求: 12 VDC；直接USB控制接口及軟體控制；3米多功能專用信號線纜。（d）移動坐標架： 高精度二維（X-Y）電動控制坐標架；X/Y方向獨立移動範圍0-200mm；使用LDV軟體同步控制，實現數據存儲和移動定位同步。

主要功能

雷射粒子測速系統是利用雷射器發射特定波長的雷射，通過二維光學探頭照射入流體中，匯聚到一點。由於流體顆粒流過雷射照射點後，會產生都卜勒頻移，通過探頭內部的接收裝置，檢測到此頻移信號後，經過信號驅動和處理裝置，將此信號轉換為速度信息，從而達到非接觸、高頻率連續精確測量流體中流動速度的目的。