三維粒子成像測速系統是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器，於2013年10月16日啟用。
基本介紹
- 中文名：三維粒子成像測速系統
- 產地：美國
- 學科領域：物理學
- 啟用日期：2013年10月16日
- 所屬類別：物理性能測試儀器 > 光電測量儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
1、數字採集器（2個），ImagerSX4MCCD相機，12比特，解析度為2330*2175像素，31幀/秒，雙幀雙曝光功能；2、一套Camerlink相機接口；3、532nm相機濾光片及焦距為50mm的相機鏡頭，數值孔徑為1.8；4、一套16通道TTL同步控制及多路外部觸發可程式控制單元，不能使用兩個低通道數的同步器代替；5、軟體包括一套通用平台及2維、3維PIV子軟體包各一套。2維PIV子軟體包，包含自適應PIV技術，可以無需人工干預自動適應粒子密度及速度變化進行格線劃分。3維PIV子。
主要功能
三維粒子成像系統是為了研究燃燒、噴射流動以及其它水力學及空氣動力學下的各種研究測量而設計的，可以進行多參數的雷射圖像測量，包括速度、顆粒大小、組分濃度、溫度等，這些重要參數將影響物質的穩定性、化學性質、遮光度、流動性和材料強度。
