微尺度粒子成像測速系統

微尺度粒子成像測速系統是一種用於力學領域的工藝試驗儀器，於2017年2月21日啟用。

基本介紹

• 中文名：微尺度粒子成像測速系統
• 產地：美國
• 學科領域：力學
• 啟用日期：2017年2月21日
• 所屬類別：工藝試驗儀器 > 電子工藝實驗設備

技術指標

最高時間解析度可達25000Hz。主要技術指標如下：（1）放大倍率：5X，20X，40X；（2）工作方式：連續雷射或脈衝雷射照明；（3）最大成像頻率：大於20Kfps@1M像素；（4）激發光入射方式：光纖耦合。

主要功能

Micro PIV系統以高速相機獲得具備時間分辨能力的微尺度流場測量能力，利用螢光顯微鏡對被測區域進行放大，並利用螢光顯微鏡功能，消除照明本底光對被測信號的干擾，實現清晰成像。被側區域的大小取決於顯微物鏡的倍率，本系統配置了5X、20X和40X三組物鏡，可實現從百微米到10微米級的微尺度測量能力。