雷射粒子圖像測速儀

雷射粒子圖像測速儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的物理性能測試儀器，於2011年9月26日啟用。

基本介紹

• 中文名：雷射粒子圖像測速儀
• 產地：美國
• 學科領域：工程與技術科學基礎學科
• 啟用日期：2011年9月26日
• 所屬類別：物理性能測試儀器 > 顆粒度測量儀器 > 粒度分布測量儀

YAG200-NWL脈衝雷射器（脈衝頻率(1-15)Hz可調，能量200毫焦/脈衝）；Powerview Plus?系列CCD相機（1600×1200 像素，高信噪比，12位輸出，32 幀/秒）。

能進行三維雷射粒子圖像流場測量（3D PIV）和二維雷射粒子圖像流場測量（2D PIV）；能進行雷射誘導螢光流場測量（PLIF）。