雷射全息無損探傷_中文百科全書

利用兩次曝光雷射全息照片，去探測對象內部損傷和缺陷的一種新技術。基本方法為：先對被測物品拍攝一次全息圖；然後改變被測物品所處的環境條件（如改變溫度、壓力、濕度或其它外界作用等），在同樣的拍攝裝置在原全息圖上再進行一次全息曝光。底片沖洗顯影后，用雷射束再現，再現的影像上將出現一系列干涉條紋。通過對這些干涉條紋的分析和研究，就可判斷出被測體內部損傷和缺陷的位置、嚴重程度、性質等。