雙[光]束干涉測量術（two-beam interferometry）是2019年發布的物理學名詞。
基本介紹
- 中文名：雙[光]束干涉測量術
- 外文名：two-beam interferometry
- 所屬學科：物理學
- 公布時間：2019年
公布時間,出處,
公布時間
2019年經全國科學技術名詞審定委員會審定發布。
出處
《物理學名詞》第三版。
雙[光]束干涉測量術（two-beam interferometry）是2019年發布的物理學名詞。
雙[光]束干涉測量術（two-beam interferometry）是2019年發布的物理學名詞。公布時間2019年經全國科學技術名詞審定委員會審定發布。1出處《物理學名詞》第三版。...
干涉測量術正是基於這一點。當兩束頻率相同的光疊加時，它們產生的條紋取決於它們的相位差：相位相同時會產生增強條紋，相反則會產生減弱條紋。兩種情況之間則會產生中間強度的條紋。這些條紋可以用來分析這兩束波的相對相位關係。絕大多數的干涉儀利用的是可見光等電磁波。單束入射相干光在干涉儀（邁克耳孫干涉儀）中...
雙光束干涉儀是利用分振幅法產生雙光束以實現干涉。通過調整該干涉儀，可以產生等厚干涉條紋，也可以產生等傾干涉條紋。主要用於長度和折射率的測量，若觀察到干涉條紋移動一條，便是M2的動臂移動量為λ/2，等效於M1與M2之間的空氣膜厚度改變λ/2。在近代物理和近代計量技術中，如在光譜線精細結構的研究和用光波...
干涉測量法（Interferometry）：用多架望遠鏡把來自同一天體的光或無線電波進行組合，以增加分解。常見的有光學干涉測量、長度測量、干涉光譜、射電干涉測量。光學干涉測量 可見光的干涉測量是干涉測量術中最先發展同時也得到最廣泛套用的類別，早期的實際套用如邁克耳孫測星干涉儀對恆星角直徑的測量，但如何獲取穩定的相干...
干涉顯微鏡是利用光波的干涉原理精確測量試樣表面高度微小差別的計量儀器。按其原理可以分為多束干涉顯微鏡和雙光束干涉顯微鏡兩類。這裡僅就基於雙光束干涉的顯微鏡進行論述。干涉顯微鏡是根據光波干涉原理設計製造出來的。圖1中(a)為其光學系統示意圖。由光源1發出的光線經聚光鏡2、濾色片3、光闌4及透鏡5後成平行光...
雙光束雷射干涉儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2016年11月28日啟用。技術指標 解析度： ≤1 pm（X晶向的石英）；測量範圍：5pm- +/-25nm；形變Displacement/應變strain測量：頻率範圍50Hz到5kHz，內置電壓範圍100mV到10V；C-V測試：基電壓100mV到10V（1mHz到1Hz），小信號100mV到10V（1kHz到10kHz）。...
其原因在於它是一種直流測量系統，必然具有直流光平和電平零漂的弊端。雷射干涉儀可動反光鏡移動時，光電接收器會輸出信號，如果信號超過了計數器的觸發電平則就會被記錄下來，而如果雷射束強度發生變化，就有可能使光電信號低於計數器的觸發電平而使計數器停止計數，使雷射器強度或干涉信號強度變化的主要原因是空氣湍流，...
同理也可以測量表面缺陷如劃傷、裂痕等。光強法還可以用於測量微小位移等。準直法 利用雷射方向性好的特性，採用光學準直系統使雷射束成為一理想光學直線，進行直線度測量等。除上述方法外，還可利用光學衍射現象測量細絲和小孔（通孔），利用都卜勒效應（見雷射干涉儀）測量直線位移和角位移等。
物理學中，干涉是兩列或兩列以上頻率相同的波在空間中重疊時發生疊加從而形成新波形的現象。例如採用光學分束器將一束來自單色點光源的光分成兩束後，再讓它們在空間中的某個區域內重疊，將會發現在重疊區域內的光強並不是均勻分布的：其明暗程度隨其在空間,時間中位置的不同而變化，最亮的地方超過了原先兩束光...
按照干涉光來源區分 干涉儀可以分成波前分解和幅度分解兩類， 其差異在於是否利用波前上不同位置的子波源形成干涉。 例如楊氏雙縫干涉即屬於波前分解干涉儀（鐘錫華， 陳熙謀， 2002）； 而等傾干涉和等厚干涉即為幅度分解干涉儀。套用 干涉儀的套用極為廣泛，主要有如下幾方面：長度測量 在雙光束干涉儀中，若介...
《基於自調製雷射器和光纖干涉儀的速度測量技術》是依託中國科學院力學研究所，由楊乾鎖擔任項目負責人的面上項目。項目摘要 利用雷射束被運動物體反射後的都卜勒效應和雙光束干涉來測量運動物體表面的速度及加速度是上世紀七十年代發展起來的在固體力學，空氣動力學，電漿物理和衝擊動力學等領域一項基本的非接觸光學...
《光纖干涉測量技術》力圖對這項技術作比較系統深入的介紹，並且反映國內外在該領域中研究的最新成果。內容簡介 《光纖干涉測量技術》力圖對這項技術作比較系統深入的介紹，並且反映國內外在該領域中研究的最新成果。全書共分7章，包括緒論、光纖干涉測量的理論基礎、干涉型光纖感測器原理、光纖干涉測量、光纖光柵感測器、...
相位輪廓術是三維形貌測量的重要手段，動態、高精度相位輪廓測量技術是研究熱點之一。本項目擬發展一種雙波長光纖干涉條紋投射三維形貌測量新方法，利用波分復用技術、馬赫-澤德干涉結構及楊氏雙孔干涉原理實現雙頻干涉條紋投射，利用光纖端面的菲涅爾反射、雷射器內調製技術實現干涉臂相位差的精確測量與控制，進而實現投射條紋...
第二章 雷射干涉測量 2.1 光的疊加與干涉原理 一、光的疊加與干涉 二、雙光束干涉條紋 三、白光干涉 2.2 雷射干涉儀的構成 一、概述 二、雷射干涉儀主要構件的作用原理 2.3 雷射干涉測長技術 一、倍頻鑒向 二、干涉條紋的移相 三、非接觸式定位 四、大氣修正 2.4 雙頻雷射干涉儀 一、概述 二、雙頻激...
量子擦除實驗演示，借著擦除路徑信息，可以恢復波動行為所產生的干涉圖樣。這實驗有三個步驟：照射粒子束於刻有兩條狹縫的不透明板，然後確認在探測屏出現了干涉圖樣。觀察粒子通過的是哪條狹縫，在觀察時，必須小心翼翼地不過度攪擾光子的運動，然後，證實顯示於探測屏的干涉圖樣已被消毀。這步驟演示出，干涉圖樣是...
另外，麥可遜干涉儀的兩條幹涉臂上的平面鏡都可以被替換為Gires-Tournois標準具，此時的非線性麥可遜干涉儀會產生更強的非線性效應，並可以用來製造反對稱的光學梳狀濾波器。配置 如圖1所示，在一台標準的麥可遜干涉儀中從光源到光檢測器之間存在有兩條光路：一束光被光學分束器（例如一面半透半反鏡）反射後...
它可對任意角度位置，以任意角度間隔進行全自動測量，其精度達±1。新的國際標準已推薦使用該項新技術。它比傳統用自準直儀和多面體的方法不僅節約了大量的測量時間，而且還得到完整的迴轉軸精度曲線，知曉其精度的每一細節，並給出按相關標準處理的統計結果。（4）雙軸定位精度的檢測及其自動補償 雷尼紹雙雷射干涉儀...
微機型萬能工具顯微鏡JX13B是在數字式萬能工具顯微鏡JX11B的基礎上採用計算機技術對測量數據進行數據處理。配置了優於影象法和軸切法的雙光束干涉條紋測量法使微機型萬工顯系統性能得到了大大提高，軟體的可組合性和可開發性增強了系統的功能，在更大範圍內滿足廣大用戶的需要。微機型萬能工具顯微鏡是機械、電子製造業...
量子擦除實驗演示，借著擦除路徑信息，可以恢復波動行為所產生的干涉圖樣。這實驗有三個步驟：照射粒子束於刻有兩條狹縫的不透明板，然後確認在探測屏出現了干涉圖樣。觀察粒子通過的是哪條狹縫，在觀察時，必須小心翼翼地不過度攪擾光子的運動，然後，證實顯示於探測屏的干涉圖樣已被消毀。這步驟演示出，干涉圖樣是...
它是非色散型的，核心部分是一台雙光束干涉儀（圖4中虛線框內所示），常用的是邁克耳孫干涉儀。當動鏡移動時，經過干涉儀的兩束相干光間的光程差就改變，探測器所測得的光強也隨之變化，從而得到干涉圖。經過傅立葉變換的數學運算後，就可得到入射光的光譜B(v)：式中I(x)為干涉信號；v為波數；x為兩束光的...
量子擦除實驗演示，借著擦除路徑信息，可以恢復波動行為所產生的干涉圖樣。這實驗有三個步驟：照射粒子束於刻有兩條狹縫的不透明板，然後確認在探測屏出現了干涉圖樣。觀察粒子通過的是哪條狹縫，在觀察時，必須小心翼翼地不過度攪擾光子的運動，然後，證實顯示於探測屏的干涉圖樣已被消毀。這步驟演示出，干涉圖樣是...
在顯微鏡本身結構發展的同時，顯微觀察技術也在不斷創新：1850年出現了偏光顯微術；1893年出現了干涉顯微術；1935年荷蘭物理學家澤爾尼克創造了相襯顯微術，他為此在1953年獲得了諾貝爾物理學獎。古典的光學顯微鏡只是光學元件和精密機械元件的組合，它以人眼作為接收器來觀察放大的像。後來在顯微鏡中加入了攝影裝置，以...
對於引發聚合的光源研究最多的是紫外光和雷射。經紫外光照射的PDLC膜，單體在整個照射面積上發生聚合，形成兩相雙連續形貌。光照處單體光聚合，未照處單體則沿濃度梯度向光照處擴散，這樣就得到具有光柵結構的PDLC膜。而選用雙束雷射作為光源，將樣品放於雙束雷射的干涉處，同樣可以得到聚合物和液晶交替的周期性變化...
大約在鼓輪中央）的距離，測量一次，定出最大的測量誤差。5. 量兩個虛光源的距離。分別測出兩個虛光源所成大小實像的距離t1和t2。利用公式 ，即可計算出兩虛光源的間距。測三次取平均值。6. 利用公式計算鈉燈光的波長，要求誤差小於3%（鈉光波長為5893Ǻ）。參見 衍射 摩爾紋 干涉儀列表 干涉測量術 ...
屬於色散型，它的單色器為稜鏡或光柵，屬單通道測量。②傅立葉變換紅外光譜儀。它是非色散型的，其核心部分是一台雙光束干涉儀。當儀器中的動鏡移動時，經過干涉儀的兩束相干光間的光程差就改變，探測器所測得的光強也隨之變化，從而得到干涉圖。經過傅立葉變換的數學運算後，就可得到入射光的光譜。這種儀器的優...
介紹了國際主流的光刻機像質檢測技術，詳細介紹了本團隊提出的系列新技術，涵蓋了光刻膠曝光法、空間像測量法、干涉測量法等檢測技術，包括初級像質參數、波像差、偏振像差、動態像差、熱像差等像質檢測技術。本書介紹了這些技術的理論基礎、原理、模型、算法、仿真與實驗驗證等內容。以光刻機原位與線上像質檢測...
在可見光和紅外波段，地物輻射特性用紅外輻射計、可見光輻射計、雙光束干涉儀、多光束干涉儀等光譜儀器來測量。在微波波段，地面輻射計經參考輻射源（標準噪聲源或等效負載）校準後，可測定地物的微波亮度溫度。地物波譜 - 反射波譜 地物反射電磁波的強度決定於物體本身的物理和化學特性，並與入射電磁波的波長、極化...
1.7 雷射散斑干涉技術 （47）1.7.1 散斑及其形成的原理 （47）1.7.2 散斑的性質 （48）1.7.3 散斑照相測量原理 （50）1.7.4 散斑干涉測量技術 （51）1.7.5 散斑剪下干涉術 （58）1.7.6 散斑干涉測量的套用 （62）練習與思考題 （64）本章參考文獻 （64）第2章 光衍射技術 （65）2.1 雷射...
外界信號（被測量）通過選頻、濾波等方式改變光纖中傳輸光的波長，測量波長變化即可檢測到被測量，這類調製方式稱為光波長調製。用於光波長調製的方法主要是光學選頻和濾波。傳統的光波長調製方法主要有F-P干涉式濾光、里奧特偏振雙折射濾光及各種位移式光譜選擇等外調製技術。近20多年來，尤其近幾年迅速發展起來的...