透射電子電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2012年5月12日啟用。
基本介紹
- 中文名：透射電子電子顯微鏡
- 產地：日本
- 學科領域：材料科學
- 啟用日期：2012年5月12日
- 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
解析度0.204nm放大倍率x600,000。
主要功能
材料形貌與結構表征。
透射電子電子顯微鏡
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