透光率/反射率測定儀

透光率/反射率測定儀,用於各類平面光學元件的反射、透射光譜快速測量。可進行多角度相對/絕對反射率、透過率測量,偏振光測量,膜性測量。

基本介紹

  • 中文名:透光率/反射率測定儀
  • 用於:各類平面光學元件的反射等
  • 測量範圍:稜鏡、平行平板、鏡面等
  • 單次測量時間:<100ms
測量範圍,技術參數,

測量範圍

稜鏡、平行平板、鏡面等平面光學性能。

技術參數

類別
I型
II型
III型
探測器
Sony ILX511 x線形CCD 陣列
Sony ILX511 x線形CCD 陣列
Hamamatsu S7031背照式2D-CCD
檢測範圍
380-1000nm
380-1100nm
360-1100nm
波長解析度
<1.35nm
<1.35nm
<1.35nm
信噪比(全信號)
250:1
250:1
1000:1
相對檢測誤差
<0.6%(400-800nm)
<0.6%(400-800nm)
<0.2%(400-800nm)
操作方式
手動
電動
電動
角度解析度
0.1 &ordm;
<0.0002&ordm;
<0.0002&ordm;
重複定位精度:
-
<0.005 &ordm;
<0.005 &ordm;
旋轉最大速度:
-
25 &ordm;/s
25 &ordm;/s
透射/反射測量角
>8&ordm; , <80 &ordm;,可擴展到5&ordm;
單次測量時間
<100ms
S/P光測量
可以
樣品尺寸
>5mm
作業系統/接口
Windows XP Vista /USB2.0
產品尺寸
1020mm*485mm*300mm
功率/電源:
100W/220V-50HZ
其他
可自定義列印報表格式,開放式光學材料光坯反射率資料庫

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