超高真空變溫掃描隧道顯微鏡

超高真空變溫掃描隧道顯微鏡是一種用於物理學、化學、材料科學領域的計量儀器，於2015年10月9日啟用。

基本介紹

• 中文名：超高真空變溫掃描隧道顯微鏡
• 產地：日本
• 學科領域：物理學、化學、材料科學
• 啟用日期：2015年10月9日
• 所屬類別：計量儀器 > 光學計量儀器 > (0.1～70)W雷射功率基準裝置

技術指標

超高真空低溫下實現分子量子體系的高空間分辨成像；STS譜測量；可以在室溫、液氮和液氦等溫度區間工作。STM空間分辨：0.1 nm（XY向），0.05nm（Z向）；STM掃描範圍：4μm（RT），1μm（5K）；溫度範圍：5-300K；真空：進樣室10（-7）Torr，制樣室10（-10）Torr，觀察室10（-10）Torr；能量分辨：5meV；半球收集效率：11%。

主要功能

與光子收集與檢測系統聯用，可實現對單分子量子體系的電致發光、針尖增強拉曼光譜測量及其光子圖成像等功能，光子檢測靈敏度為單光子水平。該系統可用於納米光子學、表面光化學、生物分子成像、分子納米技術、量子光源等基礎領域的研究。