超音波C掃描無損檢測系統

超音波C掃描無損檢測系統是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2012年12月31日啟用。

基本介紹

• 中文名：超音波C掃描無損檢測系統
• 產地：美國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2012年12月31日
• 所屬類別：分析儀器

技術指標

①最小掃描範圍為1200mm*900mm*600mm； ②精度要求：能檢測出大於1mm*1mm的氣孔； ③檢測速度：在3小時內能完成1500mm*1500mm工件的檢測。

主要功能

利用材料內部各種物理特性及其缺陷對超音波傳播過程中的聲學性能差異的現象，來檢驗材料內部缺陷的無損檢測方法。一方面利用它可以實現碳纖維複合材料平台的製造工藝研究中可靠精確的質量控制，分析製造過程中複合材料缺陷的形成機制、類型、分布和缺陷區域大小，可以直觀定量和線上方式快速實施檢測。