超聲檢測設備

超聲檢測設備是一種用於數學領域的物理性能測試儀器，於2012年04月01日啟用。

基本介紹

• 中文名：超聲檢測設備
• 產地：德國
• 學科領域：數學
• 啟用日期：2012年04月01日
• 所屬類別：物理性能測試儀器 > 探傷儀器 > 超聲探傷儀

技術指標

探頭規格：15MHZ、 30MHZ、 75MHZ、 100MHZ、 150MHZ、 230MHZ、 400MHZ。

主要功能

超聲掃描顯微鏡主要用於檢測並分析半導體封裝技術開發中的元器件內部分層等缺陷，對X-ray不能分辨的裂紋及封裝技術研發過程中粘接層、填充層、塗鍍層、結合層通過無損掃描進行分析。