超景深顯微鏡是一種用於物理學領域的分析儀器，於2015年07月08日啟用。
基本介紹
- 中文名：超景深顯微鏡
- 產地：日本
- 學科領域：物理學
- 啟用日期：2015年07月08日
- 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
100倍-5000倍。
主要功能
顯微鏡3D成像。
超景深顯微鏡
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