超快時間分辨光譜探測系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2018年12月12日啟用。
基本介紹
- 中文名：超快時間分辨光譜探測系統
- 產地：日本
- 學科領域：物理學
- 啟用日期：2018年12月12日
- 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 光譜成像儀
技術指標,主要功能,
技術指標
1、條紋管 1.1光電陰極：S-20ER 1.2光譜回響範圍：200nm-900nm 1.3 有效陰極面積：≥0.15mm*4mm 1.3有效增益：＞3×103 1.4螢光屏有效面積：Φ18mm 1.5空間解析度：≥40lp 1.6輸出方式：光纖輸出 2、門控模組 2.1消光率：＞1:106min 2.2門控觸發輸入：TTL/50Ω 2.3增益門控重複頻率：10KHz 2.4光電陰極門控重複頻率：10KHz 2.5 門觸發延遲時間：≤300ns 3、同步掃描模組 3.1時間分辨：≤1ps FWHM 3.2掃描時間：100ps-1/6fs（掃描頻率） 3.3同步頻率：75MHz-165MHz 3.4觸發抖動：＜1ps 4、慢速掃描模組 4.1時間分辨：＜20ps FWHM 4.2掃描時間：2ns-1ms 4.3掃描頻率：4MHz 4.4觸發延時：≤50ns 5、CCD相機 5.1有效像素：＞1000（H）*1000（V） 5.2曝光時間：＞10us-3000s 5.3最大讀出速度：＞26幀/秒 5.4A/D轉換：12位/16位 6、同步延時發生器 6.1鎖模輸入信號。
主要功能
1、用於超快時間分辨電子光源的研究，飛秒雷射照射到光陰極材料上激發出光電子，光電子做為電子光源激發螢光材料並發出特定的光譜信號，條紋相機系統用於採集這些光譜信號並對其進行超高時間分辨分析，研究時間分辨的光電發射特性。 2、用於超快時間分辨陰極螢光光譜採集。 3、用於超快時間分辨光譜採集。
