衝擊試驗對於衝擊試樣缺口要求嚴格，缺口的微小變化，都會引起試驗結果出現誤差，為保證加工出的衝擊試樣缺口合格，缺口的加工質量檢驗是一個重要的控制手段。目前用光學投影放大檢查是唯一切實可行，並能保證衝擊試樣 缺口質量的方法。
基本介紹
- 中文名：衝擊試樣缺口投影儀
- 放大倍數：50倍
- 投影屏直徑：200mm
- 電源：220V/50Hz
概述,原理,產品特點,適用行業,技術參數,使用注意事項,
概述
隨著國內工業技術的發展，越來越多的行業已經開始執行夏比V型缺口衝擊試驗方法， 日前國內諸如鍋爐壓力容器、冶金和機械等行業已普遍採用夏比V型缺口衝擊試驗取代使用了幾十年的梅氏U型缺口衝擊試驗。根據目前國內廣大用戶的實際需求和國標GB/T229-2007《金屬材料夏比擺錘試驗方法》中對衝擊試樣缺口的要求而設計、開發的一種專用於檢查夏比V型（深2mm）和U型（深2mm）衝擊試樣缺口加工質量的專用光學儀器，是廣大冶金、鍋爐壓力容器、車船和工程 機械製造及科研等部門理化實驗室的必備專用設備。也可根據客戶的要求定做，滿足檢測 3mm 或 5mm 衝擊試樣缺口的需要。
對於夏比V型缺口衝擊試驗，由於試樣V型缺口要求嚴格（試樣缺口深2mm、呈45°角且試樣缺口尖端要求R0.25±0.025mm），故在整個試驗過程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關鍵問題，如果試樣缺口的加工質量不合格，那么其試驗的結果是不可信的，特別是R0.25mm缺口尖端的微小變化（其公差帶只有0.025mm），都會引起試驗結果的陡跳，尤其是在試驗的臨界值時會引起產品或報廢或合格兩種截然相反的結果。為保證加工出的夏比V型缺口合格，其缺口的加工質量檢驗是一個重要的質量控制手段。用光學投影放大檢查是唯一切實可行並能保證檢查質量的方法。CST-50型衝擊試樣缺口投影儀是我公司根據日前國內廣大用戶的實際需求和GB/T229-2007《金屬材料夏比缺口衝擊試驗方法》中對衝擊試樣缺口的要求而設計、開發的一種專用於檢查夏比V型和U型衝擊試樣缺口加工質量的專用光學儀器。
衝擊試樣缺口投影儀
衝擊試樣缺口投影儀原理
本投影儀發出的光線經聚光鏡照射到被測物，再經物鏡將被照射物體放大的輪廓投射在投影螢幕上。根據實際需要，本儀器為單一投射照明，光源通過一系列光學元件投射在工作檯上，再通過一系列光學元件將被測試樣缺口輪廓清晰的投射到投影屏上。物體經二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的圖形與實際試樣放置的方向一致。
產品特點
該儀器是利用光學投影方法將被測的衝擊試樣V或U型缺口與標準樣板圖比對，以確定被檢測的衝擊試樣缺口加工是否合格，操作簡便，檢查對比直觀、效率高，是唯一切實可行、並能保證檢查質量的衝擊試樣缺口檢查方法，是相關理化試驗室的必備儀器。
適用行業
本投影儀是廣大冶金、鍋爐壓力容器、車船和工程機械制及科研等部門理化實驗室的必備專用設備。
該儀器還可用於機械零部件的外形輪廓、紡織物纖維、生物切片分析、工量刃具的檢驗、儀表元件和半導體元件的投影檢測。滿足標準GB/T 229-2007 ASTM E23-2002a等技術要求。
技術參數
1、 放大倍數：50倍；
2、 投影屏直徑：200mm；
3、 工作檯尺寸：
方工作檯：110×125mm
圓工作檯：90mm
工作檯玻璃直徑：70 mm；
4、 工作檯行程：縱向：10 mm； 橫向：10 mm； 升降：12 mm（無刻度）；
5、 工作檯轉動範圍：0 — 360°；
6、 儀器放大倍率：50×
物鏡放大倍率：2.5×
投影物鏡放大倍率：20×；
7、 光源（鹵鎢燈）：12V/100W；
8、 電源：220V/150W；
9、 外形尺寸：510×220×600mm（長×寬×高）；
10、重量：約20kg。
使用注意事項
1. 安置儀器的工作環境應保持清潔，避免有害氣體、灰塵和油霧、遠離熱源。工作溫度應保持在20—35℃之間，空氣中的相對濕度應不0超過50%，否則對高盛投影儀光學部件和金屬鍍膜層有不良影響，破壞成像質量。禁止在投影機附近吸菸。
2. 小心輕放,注意防震。
3. 為保證成像清晰，高盛投影儀應放置在無日光或其它雜光折射投影屏的地方。
4. 透鏡、投影屏應經常保持清潔，其表面避免用手觸碰，避免灰塵和油污。
5. 儀器外露運動部分機件要定期用汽油清洗，塗以適量的潤滑油。
6. 關機後勿實時開動。又關又開，投影機里最值錢的燈泡經常受電壓衝擊，壽命可能會大大縮短，因此最好在關機後約5分鐘才再開機。
7. 用後散熱，不要一用完就立刻拔出投影機的插頭離開。將投影機繼續插在電源上，大部分機種會在這時繼續開動風扇，為燈泡散熱，故最好在關機後一段時間後才切斷電源。
8. 用戶不可自行維修和打開機體，零件更換儘量使用原配件,如有問題及時聯繫生產廠家。
9. 儀器一定要接好地線，確保全全。
