XT-50型衝擊試樣夏比投影儀

XT-50型衝擊試樣投影儀,是根據廣大用戶的實際需要和GB/T299-1994《金屬夏比衝擊試驗方法》中對衝擊試樣缺口的要求而開發的一種專用於檢驗夏比V型和U性型缺口加工質量的光學儀器。投影屏直徑是180mm。

基本信息,功能特點,規格技術參數,

基本信息

XT-50型衝擊試樣夏比投影儀概述:
該儀器是利用光學投影方法將被測的衝擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍後投射到投影屏上,與投影屏上的衝擊試樣V型和U型缺口標準樣板圖對比,以確定被檢測的試樣缺口是否合格。其優點是操作簡便,對比直觀。

功能特點

本投影儀光源發出的光線經聚光鏡照射到被測物體,再經物鏡將被照射物體放大的輪廓投射到投影屏上。
根據需要,本儀器為單一投射照明,光源通過一系列光學元件投射在工作檯上,再通過一系列光學元件將被測試樣缺口輪廓清晰的投射到投影儀上。物體經二次放大和二次反射成正像,在投影屏上所看到的圖形與實際試樣放置的方位一致。

規格技術參數

投影屏直徑: 180mm
工作檯尺寸:
方工作檯尺寸: 110×125mm
圓工作檯直徑: 90mm
工作檯玻璃直徑: 70mm
工作檯行程:
縱向: ±10mm
橫向: ±10mm
升降: ±12mm(無刻度)
工作檯轉動範圍: 0-360°(無刻度)
放大倍數:
儀器放大倍率: 50X
物鏡放大倍率: 2.5X
投影物鏡放大倍率: 20X
光源(鹵鎢燈): 12V 100W
外形尺寸: 515×224×603mm(長×寬×高)
重量: 約18Kg

相關詞條

熱門詞條

聯絡我們