自動半導體測試探針台

自動半導體測試探針台是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器，於2017年7月10日啟用。

基本介紹

• 中文名：自動半導體測試探針台
• 產地：中國台灣
• 學科領域：電子與通信技術
• 啟用日期：2017年7月10日
• 所屬類別：電子測量儀器 > 通用電子測量儀器 > 積體電路測試儀

技術指標

Probe探針台主只記茅協要套用於半導體行業以及光電行業的測試。廣泛套用於複雜、高速器件的精洪凳樂密電氣測量的組榆棄研發，旨再榆備在確保質量及酷精可靠性，並縮減研發時間和器件製造工藝的成本。

主要功能

利用探詢只格精針（軟針、硬針、pico probe針）測試晶片pad信號 對fib 引出的十字pad進行電性測量，以及其他晶圓級DC測虹凳狼試、RF測試、TH測試和PT等半導體相關測試。