基本介紹
- 中文名:測厚儀
- 外文名:thickness gauge
- 作用:測量材料及物體厚度
- 主要類型:超聲、磁性、渦流、同位素等
- 學科:感測器科學
- 測定原理:放射性檢測、超音波檢測等
膜厚測量儀一般指本詞條
精工膜厚儀是一款式可通過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量,避免直接接觸或破壞被測物。參數介紹 儀器校正:自動校正 準直器:〇型:0.1 , 0.2 ,o.3mmф □型:0.2x0.05, 0.05x0.2mm 樣...
設計、安裝測厚儀時要在可能的條件下儘量靠近工作輥,目的是降低板厚的滯後調整時間。主要類型 用於測定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。有些構件在製造和檢修時必須測量其厚度,以便了解材料的厚薄規格,各點均勻度和材料腐蝕、...
XRF鍍層測厚儀:俗稱X射線螢光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等;功能:精密測量金屬電鍍層的厚度;套用範圍:測量鍍層,塗層,薄膜,液體的厚度或組成,測量範圍從12(Mg)到92(U);5 層 (4 ...
電鍍膜厚儀 OU3100型是最薄基底為0.5mm,測量範圍為0-1250um(標準量程)的儀器。套用 OU3100F型塗鍍層測厚儀測量鋼、鐵等鐵磁質金屬基體上的非鐵磁性塗層、鍍層,例如:漆、粉末、塑膠、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁...
OU3100F型塗層膜厚儀測量鋼、鐵等鐵磁質金屬基體上的非鐵磁性塗層、鍍層,例如:漆、粉末、塑膠、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。套用 OU3100F型塗層膜厚儀測量鋼、鐵等鐵磁質金屬基體上...
儀器適於在生產現場、銷售現場或施工現場對產品進行快速、無損的膜厚檢查,可用於生產檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。儀器符合國家標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。儀器特點 ED400型渦流測厚儀與ED300...
採用電渦流原理的測厚儀,原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量,如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁製品表面的漆,塑膠塗層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性,通過校準同樣也可測量,但要求兩者的導電率之...
衍射三維形貌儀NM系列 用途:為光通訊矽波導、NAND、生物晶片、DRAM、AR/VR結構光柵、光學薄膜等領域提供納米級的膜厚、占空比、側壁角等測量。特點:高效、精準高精度測量;膜厚測量重複性可達0.01nm;折射率重複性可達0.0005。地址 ...