基本介紹
- 中文名:背散射電子
- 外文名:back scattered electron
- 分類:彈性,非彈性
- 相關介紹:背散射電子成像
概述
![背散射電子 背散射電子](/img/3/049/wYjRWZxUTMiJWMzImMxkzMxEmM3MmY5UzMwYjZwkTY0EDM5ImM4IGOvMWaw9SbvNmLz9mYlNmYu4GZj5yZtl2ai9yL6MHc0RHa.jpg)
背散射電子是被固體樣品中的原子核反彈回來的一部分入射電子。其中包括彈性背散射電子和非彈性背散射電子。 能量很高,有相當部分接近入射電子能量 E 0 ,在試樣中...
背散射電子像是在掃描電子顯微鏡中,通過電子槍產生的電子,經過加速磁場、偏轉磁場後,照射到待檢測的樣品表面,待檢測樣品會反射一部分的電子,在掃描電子顯微鏡的工作...
電子背散射衍射(Electron back scattered diffraction 簡稱EBSD或BSD)是一種基於掃描電子顯微鏡(SEM)的微結構晶體學表征技術,通常用於研究晶體或多晶材料。該技術可以...
非彈性電子散射,是指具有一定能量的電子與物體發生非彈性碰撞的過程。被散射電子的波長改變(見電子衍射),損失的能量導致物體內部的某些激發效應,其表現形式可以是背...
背散射電子像和吸收電子像都可以顯示樣品的元素分布狀態。光學儀器 ▪ 光譜學 ▪ 光度學 ▪ 輻射度學 ▪ 色度學 ▪ 標準比色圖表 ▪ 光學系統 ...
冷場發射掃描電子顯微鏡m213451是專門為現今技術研究和發展設計的超高解析度儀器 [1] 。獨特之處在於使用複合檢測器允許同時顯示二次電子和背散射電子成像。可以以...
《電子顯微分析》作為學習電子顯微分析技術的入門書,主要介紹透射電子顯微術(電子衍射、質厚襯度像、衍射襯度像)、掃描電子顯微術(包括背散射電子衍射和環境掃描...
由入射電子轟擊樣品表面激發出來的電子信號有:俄歇電子 (Au E) 、二次電子 (SE) 、背散射電子 (BSE) 、X射線 (特徵X射線、連續X射線) 、陰極螢光 (CL) ...
5 4 1二次電子像179 5 4 2背散射電子像183 5 4 3透射掃描電子像185 5 4 4吸收電子像187 5 4 5陰極射線致發光光譜和像189 ...
晶體學取向成像掃描電子顯微術SEM的另一個新發展方向是以背散射電子衍射圖樣(EBSP)為基礎的晶體學取向成像電子顯微術(OIM)。在SEM上增加一個可將試樣傾動約70度...
研究所擁有掃描電子顯微鏡、電子能譜儀、背散射電子衍射儀、Agilent 4291B RF阻抗分析儀、日本理學XRD、磁控濺射台、真空蒸發台、燒結爐、熱處理爐、Agilent數字記憶...
除X射線圖象外,它還能得到背散射電子圖象、吸收電子圖象和透射電子圖象。通過這3種信息圖象可以了解樣品的表面元素的分布狀態和結構等特性,因此比單獨的電子顯微鏡的...
掃描電子顯微鏡的製造是依據電子與物質的相互作用。當一束高能的人射電子轟擊物質表面時,被激發的區域將產生二次電子、俄歇電子、特徵x射線和連續譜X射線、背散射...
探測器:背散射電子探測器或二次電子探測器台式掃描電子顯微鏡特點 編輯 放大倍數高(相對光學顯微鏡)成像速度快大景深體積小巧操作簡便
1、場發射環境掃描電子顯微鏡解析度:二次電子像高真空模式:30KV時<2.0nm 低真空模式:3KV時<3.5nm ESEM環境真空模式:30KV時<2.0nm 羅賓遜探頭,背散射電子像放大...
二次電子探測器和背散射電子探測器均內置於鏡筒電子束光路上,試樣的工作距離不受背散射探測器的影響,可以非常接近極靴,這樣可以同時獲得最高的二次電子像解析度和...
當電子轟擊樣品表面時會產生各種信號,其中包括二次電子、背散射電子和不同能量的光子等。這些信號來自樣品的特定發射區域,它隨表面形貌的不同而變化。從而可以獲得...