線上光譜型橢偏儀是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器,於2013年09月10日啟用。
基本介紹
- 中文名:線上光譜型橢偏儀
- 產地:美國
- 學科領域:物理學、材料科學
- 啟用日期:2013年09月10日
- 所屬類別:物理性能測試儀器 > 光電測量儀器 > 光偏振態分析儀
線上光譜型橢偏儀是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器,於2013年09月10日啟用。
線上光譜型橢偏儀是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器,於2013年09月10日啟用。技術指標245nm--1680nm,自動變角。1主要功能實時監測薄膜生長過程中的光學參量。1...
光譜型成像橢偏儀是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器,於2017年09月01日啟用。 中文名 光譜型成像橢偏儀 產地 德國 學科領域 物理學、材料科學 啟用日期 2017年09月01日 所屬類別 物理性能測試儀器 > 光電測量儀器 目錄 1技術指標 2主要功能 ...
紅外光譜型橢偏儀是一種用於能源科學技術領域的分析儀器,於2012年9月29日啟用。技術指標 IR-VASE型紅外光譜橢偏儀為旋轉補償器(RCE)式布置方式,主要由紅外光源、起偏器、旋轉補償器等部件組成,可測光譜範圍為1.7-30μm。在1-64cm-1範圍內共7種解析度可供選擇。 可測物理量為:固體材料(含薄膜)光學常數...
原位橢偏測量中需要考慮到環境因素,因此原位測試的樣品通常都在各種過程腔體內進行,光線要通過這些腔體的光學視窗。這會帶來其他的問題。儘管有這些問題存在,作為過程控制技術的原位橢偏技術在薄膜沉積過程中變得越來越重要。原位橢偏儀,可以是單波長橢偏儀,也可以是光譜型橢偏儀。光譜型原位橢偏儀使用多通道探測器,...
偏振因數)進行測量和評估,提高測量精度 優點和缺點 ■ 優點:相對於光譜型橢偏儀,雷射單波長橢偏儀比較簡單,由於不需要單色儀,四分之一玻片也可以根據波長固定,光學元件也可以針對特定波長進行設計,所以價格相對便宜,同時測量精度較高。■缺點:對多層膜分析能力不足,不如光譜型橢偏儀。
理論結果表明採用SPR橢偏技術後測試精度大幅度提升,對於~8nm超薄金膜,0.1nm的厚度變化對應共振中心波長漂移8nm;1nm厚度變化對應共振中心波長漂移72nm;在1250nm處折射率變化0.05,Delta變化16°,在此基礎上開發了兩類SPR橢偏儀:SPR成像橢偏儀和SPR光譜型橢偏儀。 自主搭建SPR成像橢偏儀,採用傾斜成像技術消除...
著重研究並解決廣義成像橢偏測量中的納米結構快速光學特性建模、測量條件最佳化配置、幾何參數魯棒提取與不確定度評估等基礎理論與關鍵技術問題,實現包括整個視場的大面積區域內納米結構三維顯微形貌的準確實時重構,為深入認識和解釋基於廣義成像橢偏儀的納米結構測量提供理論基礎,為批量化納米製造中的線上工藝監控提供一種大...