納米顆粒跟蹤分析儀

納米顆粒跟蹤分析儀是一種用於材料科學、生物學領域的物理性能測試儀器，於2017年6月19日啟用。

基本介紹

• 中文名：納米顆粒跟蹤分析儀
• 產地：德國
• 學科領域：材料科學、生物學
• 啟用日期：2017年6月19日
• 所屬類別：物理性能測試儀器 > 顆粒度測量儀器 > 粒度分布測量儀

技術指標

測量原理：zeta電位（微電泳），粒徑（布朗運動），顆粒濃度（視頻評價）光學設計：具有單個粒子跟蹤功能的雷射散射視頻顯微鏡，自動校準，自動聚焦測量池：石英玻璃測量池施加電壓：Zeta電位：-24V，+24V 粒徑：0V光學系統：顯微鏡物鏡10倍變焦，數字相機，640×48。

主要功能

Zeta電位：準確度5mv，精度4mv，重現性5mv；粒度測試（對於100納米的標準乳膠顆粒）：準確度6nm，精度4nm，重現性4nm；濃度測試（100納米的顆粒，濃度10Mio粒子/ml）：準確度0.8 Mio/ml，精度0.5Mio/ml，重現性1Mio/ml。