《粒度分析 圖像分析法(第1部分):靜態圖像分析法(GB/T 21649.1-2008)》主要修改內容如下：在附錄B中增加了兩檔放大倍率，使測量範圍拓展到納米級。4.2條制樣方法的內容從正文移至附錄F（資料性附錄），並增加F.5“支持膜法”。對範圍進行了修改。對術語、縮略語、定義與符號進行了修改。將ISO 13322－16.3.6.1條中示例改寫為“檢定過的標準格柵或粒度標準物質”。
基本介紹
- 中文名：粒度分析 圖像分析法
- 語言：簡體中文
- 出版時間：2008年6月1日
- 出版社：中國標準出版社
- 頁數：30 頁
- ISBN：155066131687
- 開本：16 開
內容簡介,圖書目錄,
內容簡介
《粒度分析 圖像分析法(第1部分):靜態圖像分析法(GB/T 21649.1-2008)》由全國篩網篩分和顆粒分檢方法標準化技術委員會提出並歸口。
圖書目錄
前言
引言
1範圍
2規範性引用檔案
3術語、縮略語、定義與符號
3.1術語、縮略語與定義
3.2符號
4本方法要求的樣品製備
4.1總的推薦方法
4.2制樣方法
5圖像採集
5.1總則
5.2步驟
5.3圖像採集儀的操作條件
6顯微鏡和圖像分析
6.1總則
6.2粒度分級和放大
6.3計數步驟
7粒度的計算結果
8試驗報告
附錄A（規範性附錄）用於評估樣品平均粒徑所需的顆粒尺寸的研究
附錄B（規範性附錄）操作時的放大倍率
附錄C（規範性附錄）典型物鏡的解析度和粒度區間
附錄D（資料性附錄）典型圖像分析法的流程圖
附錄E（資料性附錄）平均值和方差的統計檢驗（方差分析和多樣性比較）
附錄F（資料性附錄）幾種制樣方法
參考文獻
