《顆粒表征的光學技術及套用》是2022年化學工業出版社出版的圖書。
基本介紹
- 中文名：顆粒表征的光學技術及套用
- 作者：許人良
- 出版社：化學工業出版社
- 出版時間：2022年8月1日
- ISBN：9787122412690
內容簡介,圖書目錄,
內容簡介
本書從對顆粒體系與顆粒表征的一般知識介紹出發，通過對光散射理論的實用性討論，系統總結了顆粒測量的基本原理和各種表征方法，如光散射技術和光學計數法、雷射粒度法、光學圖像分析法、顆粒跟蹤分析法、動態光散射法和電泳光散射法，涵蓋了新的技術發展以及市場上新的儀器產品，對每種技術相關的儀器構造與使用、數據採集與結果分析進行了詳細說明。關於顆粒表征的標準化也有專門的介紹。 本書適合於顆粒表征和光學領域的科研人員、高校教師和學生、企業相關技術人員閱讀。
圖書目錄
第1章 顆粒體系與顆粒表征 001
1．1 顆粒與顆粒體系 001
1．2 樣品製備 006
1．2．1 取樣過程 006
1．2．2 獲取實驗室樣品 007
1．2．3 實驗室樣品的縮分 009
1．2．4 最少待測樣品量 011
1．2．5 樣品分散 012
1．3 顆粒測量數據及其統計分析 018
1．3．1 數據的統計表達形式 018
1．3．2 基本統計參數 022
1．3．3 平均值 024
1．3．4 顆粒表征中的等效球 027
1．3．5 分布的解析度 029
1．3．6 測量質量 030
參考文獻 032
第2章 光散射的理論背景 035
2．1 光散射現象與技術 035
2．2 光散射理論要點 039
2．2．1 光散射幾何 039
2．2．2 單個顆粒的光散射 040
2．2．3 顆粒的時間平均散射強度 053
2．2．4 顆粒的散射強度漲落 054
2．3 其他光學技術 059
2．3．1 靜態光散射 059
2．3．2 濁度法 062
2．3．3 背散射測量 064
2．3．4 顆粒場圖像全息法 064
2．3．5 穿越時間測量 065
2．3．6 飛行時間測量 066
2．3．7 聚焦光束反射法 066
2．3．8 頻率域光子遷移 067
2．3．9 相位Doppler法 067
2．3．10 螢光相關光譜 068
參考文獻 069
第3章 光學計數法 081
3．1 引言 081
3．2 儀器構造 083
3．2．1 光源 085
3．2．2 體積測量儀的光學 085
3．2．3 原位光譜儀的光學 088
3．2．4 光學回響 088
3．2．5 樣品部分 093
3．2．6 電子系統 097
3．3 測量結果與數據分析 098
3．3．1 校準 098
3．3．2 光學顆粒計數器參數測量 101
3．3．3 粒徑測量下限 102
3．3．4 粒徑測量的準確性 103
3．3．5 粒徑測量解析度 104
3．3．6 計數的效率與準確性 105
3．3．7 液體監視器的數據分析 107
參考文獻 108
第4章 雷射粒度法 113
4．1 引言 113
4．1．1 粒徑測量上限 115
4．1．2 粒徑測量下限 116
4．2 儀器 121
4．2．1 光源 122
4．2．2 樣品處理模組 123
4．2．3 收集光學 127
4．2．4 探測系統 135
4．2．5 儀器校準與驗證 139
4．3 數據採集與分析 141
4．3．1 數據採集 141
4．3．2 數據分析 143
4．3．3 折射率效應 148
4．3．4 濃度影響 152
4．4 測量精確度與準確性 153
4．4．1 解析度與精確度 153
4．4．2 測量準確性 155
4．4．3 顆粒形狀效應 157
參考文獻 161
第5章 光學圖像分析法 169
5．1 引言 169
5．2 圖像獲取 171
5．2．1 入射光部分 171
5．2．2 靜態圖像法樣品導入 173
5．2．3 動態圖像法樣品導入 174
5．2．4 圖像採集設備 179
5．3 圖像分析 181
5．3．1 分割 181
5．3．2 邊緣及閾值 184
5．3．3 邊緣上的顆粒 185
5．4 顆粒形狀表征 187
5．4．1 形狀測量係數 189
5．4．2 形狀描述符 190
5．4．3 顆粒色彩表征 192
5．5 儀器設定、校準與驗證 193
5．5．1 儀器設定 193
5．5．2 儀器校準與驗證 195
參考文獻 196
第6章 顆粒跟蹤分析法 199
6．1 引言 199
6．2 儀器與測量參數 200
6．2．1 儀器組成 200
6．2．2 顆粒的識別和跟蹤 204
6．2．3 濃度測量 206
6．2．4 螢光測量 206
6．2．5 散射強度測量 206
6．2．6 zeta電位測量 207
6．2．7 儀器驗證 207
6．3 樣品與數據 208
6．3．1 樣品 208
6．3．2 測量範圍 210
6．3．3 測量數據的質量 213
6．4 顆粒跟蹤分析法的其他考慮因素 217
6．4．1 Stokes-Einstein公式的適用性 217
6．4．2 顆粒必須只有所跟蹤的運動 218
參考文獻 219
第7章 動態光散射法 221
7．1 引言 221
7．2 儀器組成 223
7．2．1 光源 223
7．2．2 入射光部分 224
7．2．3 樣品池模組 226
7．2．4 散射光探測元件 227
7．2．5 探測器 229
7．2．6 電子線路 230
7．2．7 相關器 230
7．2．8 頻率分析 233
7．2．9 多角度測量 234
7．2．10 圖像動態光散射 236
7．2．11 線上動態光散射測量 238
7．2．12 自混合雷射干涉儀 239
7．2．13 實驗注意事項 239
7．3 數據分析 241
7．3．1 自相關函式衰變常數分析 242
7．3．2 頻率分析 251
7．3．3 擴散係數分析 253
7．3．4 粒度分析 255
7．3．5 分子量分析 261
7．3．6 準確度與解析度 262
7．4 測量濃懸浮液 263
7．4．1 光導纖維探頭（光極） 264
7．4．2 交叉相關函式測量 265
7．4．3 擴散波光譜 267
參考文獻 269
第8章 電泳光散射法 281
8．1 引言 281
8．2 zeta電位與電泳遷移率 282
8．2．1 zeta電位 282
8．2．2 電泳遷移率 286
8．2．3 電泳遷移率的測量 288
8．3 電泳光散射儀器 289
8．3．1 外差法測量 290
8．3．2 頻移器 293
8．3．3 樣品池 294
8．3．4 電場 302
8．3．5 多角度測量 303
8．3．6 信號處理 304
8．3．7 實驗注意事項 305
8．4 數據分析 306
8．4．1 自相關函式與功率頻譜 306
8．4．2 頻譜範圍與解析度 310
8．4．3 電泳遷移率測量的準確性 313
8．5 相位分析光散射 315
參考文獻 317
第9章 顆粒表征的標準化 323
9．1 文本標準 324
9．1．1 國際標準 324
9．1．2 中國標準 329
9．2 標準物質、參考物質與標準樣品 332
9．2．1 什麼是標準物質、參考物質與標準樣品？ 333
9．2．2 標準物質 335
9．2．3 參考物質的追溯性 336
9．2．4 顆粒表征中的標準物質與參考物質 338
9．3 標準化組織 345
9．3．1 國際標準化組織 345
9．3．2 中國標準化組織 347
參考文獻 349
第10章 其他顆粒表征技術概述 351
10．1 電阻法：計數與粒度 351
10．1．1 經典方法 351
10．1．2 可調電阻脈衝感應法 356
10．1．3 其他類型的電阻法技術 357
10．2 沉降法：粒度 358
10．3 篩分法：分級與粒度 361
10．4 色譜方法：分離與粒度 363
10．4．1 尺寸排阻色譜法 364
10．4．2 水動力色譜法 364
10．4．3 場流分離 365
10．5 超聲分析 366
10．5．1 超聲法：粒度 367
10．5．2 電聲效應：zeta電位 369
10．5．3 動態超聲散射法：顆粒動態與粒度 369
10．6 氣體物理吸附：粉體表面積與孔徑 370
10．6．1 低壓靜態體積法 370
10．6．2 高壓靜態體積法 373
10．6．3 流動氣體法 374
10．7 壓汞法：孔徑分析 374
10．8 空氣滲透法：平均粒度 375
10．9 毛細管流動孔徑分析法：通孔孔徑 375
10．10 氣體置換比重測定法：密度 377
10．11 核磁共振技術 378
10．11．1 脈衝場梯度核磁共振：粒度與孔結構 378
10．11．2 核磁共振弛豫時間比較法：顆粒總表面積 378
10．12 流動電位測量：zeta電位 379
10．12．1 DC流動電位法 379
10．12．2 AC流動電位法 380
10．13 共振質量測量：計數與粒度 380
10．14 亞微米氣溶膠測定：計數與粒度 381
10．15 顆粒表征技術小結 381
參考文獻 382
附錄1 符號 392
附錄2 Mie理論的球散射函式 395
附錄3 常用液體的物理常數 397
附錄4 常用分散劑 402
附錄5 用於分散一些粉體材料的液體與分散劑 404
