粒度粒形分析儀是一種用於材料科學領域的儀器,於2016年5月18日啟用。
基本介紹
- 中文名:粒度粒形分析儀
- 產地:中國
- 學科領域:材料科學
- 啟用日期:2016年5月18日
粒度粒形分析儀是一種用於材料科學領域的儀器,於2016年5月18日啟用。
粒度粒形分析儀是一種用於材料科學領域的儀器,於2016年5月18日啟用。技術指標 1. 靜態圖像法分析原理,可分析顆粒粒度,並提供顆粒形貌參數,粒度分析範圍10微米至5厘米,下限可擴展至2微米。2. 可對大塊樣品進行成像並進行紋理分析,...
麥克默瑞提克粒度粒形分析儀ParticleInsight是一台先進的顆粒粒形分析儀,不僅分析顆粒的粒徑分布,還可以分析選擇不同顆粒形狀的分布的粒度儀,捕獲圖像後即刻進行分析,這對分析原材料是非常重要的。此外,ParticleInsight能夠最終提供多達28...
雷射粒度粒形分析儀是一種用於電子與通信技術領域的特種檢測儀器,於2012年9月29日啟用。技術指標 粒度範圍:1-30000微米,頻閃光脈衝間隔1ns,波長532nm,CMOS解析度1024*1024,灰度8bit,拍攝速度450幀/秒。主要功能 對固體、懸浮液、...
乾法粒度和粒形分析儀是一種用於化學工程領域的物理性能測試儀器,於2013年1月16日啟用。技術指標 採用靜態圖像分析方法,可測量顆粒大小、形狀和亮度,為每個顆粒計算多個粒形參數,並根據各個參數生成分布,包括:圓當量直徑、長度、寬度...
。主要功能 本設備套用可變焦顯微成像掃描技術,直接測量粒子大小和形態,並運用後期圖像分析系統通過量化各種形狀分布值,提供了明確的粒形參數的數值分布。1.靜態圖像法分析原理,可對顆粒的粒度和粒形進行分析2.具備。
濕法粒度粒形分析儀是一種用於物理學、化學、生物學、材料科學領域的計量儀器,於2013年12月2日啟用。技術指標 粒徑測量範圍:0.3nm-150um; 圖像形狀測量範圍:1.5um-150um; zeta電勢粒徑範圍:3nm-10um; 統計分析數:達105...
動態粒度粒形分析儀是一種用於化學、材料科學領域的物理性能測試儀器,於2019年7月18日啟用。技術指標 二合一測試範圍1.1μm-3500μm,解析度2048X2048,幀速率225幅/秒;5.5X5.5μ2m灰度;1~20 ℃/min,粒度通道,自行定義和...
使用家用計算機CALLISTO軟體即可實現每分鐘6000顆粒的實時分析工作,記錄顆粒的粒徑、粒形以及輪廓信息。主要功能 全量程米氏散射理論 winner 系列雷射粒度分析採用全量程米氏散射理論,充分考慮了分散介質和被測顆粒的折射率,結合專利的測量...
1.分析精度:±≤0.6%; 2.檢測角度:大於155°; 3.檢測器數量:151個; 4.信號採集方式:實時測量,無需掃描; 5.粒形分析:檢測同一樣品粒度的同時,檢測樣品的粒形。主要功能 S3500SI大尺度顆粒分析儀用於測量粉體顆粒的粒徑...
動態顆粒圖像分析儀 動態顆粒圖像分析儀是一種用於數學領域的物理性能測試儀器,於2014年1月1日啟用。技術指標 300-2000μm顆粒計數,誤差±0;300-2000μm顆粒粒度粒形分析,誤差±5μm。主要功能 顆粒技術及顆粒粒度粒形分析。