雷射粒度粒形分析儀

雷射粒度粒形分析儀是一種用於電子與通信技術領域的特種檢測儀器，於2012年9月29日啟用。

基本介紹

• 中文名：雷射粒度粒形分析儀
• 產地：德國
• 學科領域：電子與通信技術
• 啟用日期：2012年9月29日
• 所屬類別：特種檢測儀器

技術指標

粒度範圍:1-30000微米，頻閃光脈衝間隔1ns,波長532nm，CMOS解析度1024*1024，灰度8bit，拍攝速度450幀/秒。

主要功能

對固體、懸浮液、噴射劑等物料進行粒度及粒形分析的強大的檢測儀器。