稜鏡反射光技術與工程套用

《稜鏡反射光技術與工程套用》是一本正文語種為簡體中文的書籍。

基本介紹

• 書名：稜鏡反射光技術與工程套用
• 作者：張志偉
• ISBN：9787118062014
• 頁數：116
• 定價：19.00
• 出版社：國防工業出版社
• 出版時間：2009年3月1日
• 裝幀：平裝
• 開本：16
• 叢書名：現代學學技術叢書

內容簡介

《稜鏡反射光技術與工程套用》以消失波特性、稜鏡表面等離子體共振特性、受阻全內反射特性和電介質薄膜增強古斯一漢欣位移理論為基礎，以稜鏡反射光技術與套用為主體內容。包括：基於稜鏡反射光的特性，重點研究自聚焦透鏡在稜鏡鏡面反射光方向作準直耦舍系統的附加耦合損耗，為研製稜鏡型光纖感測器選擇稜鏡材料提供了理論指導；基於洛倫茲電子論和菲涅耳公式，研究稜鏡反射光原理及其在測量溶液濃度方面的套用；討論表面電漿共振感測技術在測量溶液濃度、指紋識別和表面形貌探測方面的套用；研究增強古斯一漢欣位移的方法及其在測量溶液濃度和研發相關光學器件方面的套用。

目錄

第1章 緒論

1.1 研究的內容、目的和意義

1.2 稜鏡反射光在測量溶液濃度中的套用

1.2.1 測量溶液濃度的現狀

1.2.2 基於表面電漿共振技術測量溶液濃度的發展概況

1.2.3 電介質薄膜增強古斯一漢欣位移的研究現狀和發展趨勢

1.3 雙稜鏡結構中受阻全內反射技術的研究進展

第2章 自聚焦透鏡在稜鏡型光學感測器中的套用研究

2.1 自聚焦透鏡的基本概念與基本理論

2.1.1 自聚焦透鏡的物理基礎

2.1.2 自聚焦透鏡的工作原理

2.2 自聚焦透鏡準直系統的裝配誤差及其引起的附加耦合損耗分析

2.2.1 自聚焦透鏡的長度與焦距

2.2.2 自聚焦透鏡準直系統的裝配誤差類型

2.2.3 自聚焦透鏡準直系統的裝配誤差引起的附加耦合損耗分析方法

2.3 自聚焦透鏡用於準直系統時附加耦合損耗的研究

2.3.1 自聚焦透鏡作為準直透鏡的附加耦合損耗

2.3.2 自聚焦透鏡間加入轉向直角稜鏡後的附加耦合損耗

2.3.3 自聚焦透鏡在稜鏡鏡面反射方向作準直耦合系統的附加耦合損耗

第3章 稜鏡反射光測量溶液濃度理論和方法的研究

3.1 平面光波在界面反射與折射的基本概念和基本理論

3.1.1 反射定律與折射定律

3.1.2 菲涅耳公式

3.2 溶液的濃度與其折射率關係的研究

3.2.1 溶液的濃度與其折射率之間的線性關係的理論模型

3.2.2 食鹽溶液的濃度與其折射率關係的實驗模型

3.2.3 白糖溶液的濃度與其折射率關係的實驗模型

3.3 基於菲涅耳公式測量溶液濃度的簡單模型

3.3.1 基於菲涅耳公式測量溶液濃度的特點

3.3.2 基於菲涅耳公式測量溶液濃度計算模型的建立方法

3.3.3 基於菲涅耳公式測量溶液濃度的計算模型的實驗裝置

3.3.4 基於菲涅耳公式測量溶液濃度的計算程式

第4章 稜鏡型表面電漿共振感測技術與套用研究

4.1 平面光波在界面的全反射特性與消失波的基本概念與基本理論

4.1.1 平面光波的全反射特性

4.1.2 消失波的基本概念及其特點和套用

4.2 金屬薄膜的基本特性

4.2.1 金屬薄膜光學特性的一般特點

4.2.2 銀膜和金膜在套用中的特點

4.2.3 透明基片上的單層吸收膜的反射特性

4.3 表面電漿共振感測器的基本概念和基本理論

4.3.1 電漿與表面電漿的概念

4.3.2 表面電漿共振效應的基本概念

4.3.3 表面電漿波共振的三種解釋

4.4 稜鏡型表面電漿共振感測器的理論與實驗研究

4.4.1 稜鏡型SPR感測器金屬膜的厚度

4.4.2 稜鏡折射率對SPR感測器共振角的影響

4.4.3 溶液濃度對SPR感測器共振角的影響

4.4.4 光強度調製型SPR感測器測量溶液濃度方法的研究

4.4.5 稜鏡型SPR感測器的靈敏度與影響因數

4.5 保偏光纖及其在稜鏡型SPR感測器中的套用研究

4.5.1 單模光纖的理想偏振特性與雙折射效應

4.5.2 低雙折射單模光纖

4.5.3 保偏光纖的基本原理

4.5.4 保偏光纖的結構特點

4.5.5 保偏光纖的參數與套用

4.5.6 保偏光纖的精確定位方法

4.5.7 溫度對保偏光纖的影響

4.5.8 稜鏡型保偏光纖SPR感測器

4.6 稜鏡型表面電漿共振成像技術及其套用

4.6.1 稜鏡型SPRI技術的理論基礎

4.6.2 稜鏡型SPRI技術在指紋採集系統中的套用

4.6.3 稜鏡型SPRI技術在表面形貌探測系統中的套用

第5章 電介質薄膜增強古斯一漢欣位移方法與套用研究

5.1 古斯一漢欣位移的基本概念和基本理論

5.1.1 古斯一漢欣位移的概念

5.1.2 古斯一漢欣位移的產生機理

5.1.3 古斯一漢欣位移與偏振態的關係

5.1.4 古斯一漢欣位移的特點

5.2 光電位置感測器及其在測量GH位移中的套用

5.2.1 一維PSD的結構和工作原理

5.2.2 PSD在測量GH位移中的套用研究

5.3 電介質薄膜的基本特性

5.3.1 電介質薄膜光學特性的一般特點

5.3.2 氟化鎂介質薄膜和二氧化矽介質薄膜在套用中的特點

5.3.3 單層電介質膜的反射特性

5.4 電介質薄膜增強GH位移的理論和方法研究

5.4.1 單眼射稜鏡型電介質薄膜增強GH位移的理論和方法

5.4.2 雙反射稜鏡型電介質薄膜增強GH位移的理論和方法

5.5 電荷耦合器件及其在測量GH位移中的套用研究

5.5.1 CCD工作原理

5.5.2 CCD特性參數

5.5.3 CCD性能與特點

5.5.4 線陣CCD-TCD1251UD的套用

5.5.5 雙反射稜鏡型電介質薄膜增強GH位移的實驗裝置

5.6 雙反射稜鏡型薄膜增強GH位移測量溶液濃度理論和方法研究

5.7 介質薄膜增強雙稜鏡結構受阻全內反射光束GH位移的方法

5.7.1 雙稜鏡結構的FTIR理論模型

5.7.2 電介質膜增強雙稜鏡結構FTIR光束GH位移的方法

第6章 結論與建議

6.1 主要結論

6.2 進一步研究的建議

附錄

1.TE波最大GH位移的推導過程

2.波最大GH位移的推導過程

3.T波基本GH位移的推導過程

參考文獻