套用光學是光學工程重要的技術基礎。它的傳統概念是指經典光學儀器怕望遠鏡。顯微鏡。照相機。投影儀等）中光學系統的理論與設計，它的內容主要是幾何光學和波動光學。套用光學的實驗。
基本介紹
- 中文名：套用光學綜合實驗
- 外文名：無
- 性質：是光學工程重要的技術基礎
- 傳統概念：是指經典光學儀器怕望遠鏡。
- 內容：幾何光學和波動光學
一、實驗目的,二、實驗用儀器和設備,1．光學系統的搭建,2．光學參數的測量,3．像差的性質和調整,4．平面和平面系統的性質,
一、實驗目的
2．用給定光學元件設計並搭建典型光學系統。
3．以像差理論為依據，實現簡單系統的光學裝調。
4．設計並使用常用的光學方法進行光學系統參數的測量。
二、實驗用儀器和設備
1．光學系統的搭建
I．遠攝型光組
1） 光組特點：焦距長於鏡筒筒長。
2） 組成和光路
3） 參數
4） 實驗要求：
根據焦距要求，自選正負透鏡，計算間隔，在光學實驗台上搭建光路並驗證。
II．反遠距型光組
2） 組成和光路
3） 參數
4） 實驗要求：
根據焦距和工作距要求，自選正負透鏡，計算間隔，在光學實驗台上搭建光路並驗證。
III．照相系統
1）組成和光路
2）參數
3）實驗要求：
IV．望遠系 統
1） 組成和光路
2） 參數
V．顯微系統
1）組成和光路：分別將光闌置於物鏡框上或物鏡的一次實像面上構成物方遠心光路。
VI．照明系統
1）臨界照明
參數：
2） 坷拉照明
參數：
2．光學參數的測量
利用光學方法，測定典型光學系統的參數。
1）放大鏡（焦距，放大率與觀察條件的關係）
2）顯微物鏡（焦距、NA、垂軸放大率）
3）望遠鏡（焦距、視場角、解析度）
4）照相物鏡（焦距、視場角、相對孔徑）
3．像差的性質和調整
配置可調整多片光學鏡組，通過調整隔圈、對中等關係修正像差。
4．平面和平面系統的性質
配置半導體雷射器可直接觀察平面系統的成像性質，或將平面元件置於成像光路中，觀察其性質。平面元件可包括：
