現代無機材料組成與結構表征

《現代無機材料組成與結構表征》是 2006年 高等教育出版社出版的圖書，作者是 《中國科學院研究生院教材：現代無機材料組成與結構表征》編寫組。

基本介紹

• 書名：現代無機材料組成與結構表征
• 作者：《中國科學院研究生院教材：現代無機材料組成與結構表征》編寫組
• ISBN：9787040199468
• 類別：一般工業技術
• 頁數：496
• 出版社：高等教育出版社
• 出版時間：2006-12-01
• 裝幀：平裝
• 開本：16開
• 版次：1

內容簡介

《現代無機材料組成與結構表征》是以中國科學院上海矽酸鹽研究所使用多年的研究生教材為基礎編寫的。全書共有八章，內容包括：原子吸收及發射光譜分析、X射線螢光光譜分析、輝光放電質譜分析、熱分析、x射線衍射分析、透射電子顯微分析、掃描俄歇電子能譜分析以及電子探針、掃描電鏡顯微分析等。書中系統地介紹了常用大型儀器的特點、結構、原理、分析方法的理論基礎、最新實驗技術及在材料研究中的套用。作者將數十年對先進陶瓷材料的研究結果和分析經驗以套用實例的方式介紹給讀者，具有較強的參考價值。

《現代無機材料組成與結構表征》可供材料及相關學科的研究生、大學本科生及廣大的科技人員參考。

目錄

第1章 原子吸收及發射光譜分析

1．1 原子吸收光譜法（AAS）

1．1．1 火焰原子吸收光譜法（FAAS）

1．1．2 石墨爐原子吸收光譜法（GFAAS）

1．2 電感耦合電漿發射光譜法（1CP—OES）

1．2．1 ICP—OES儀器基本結構

1．2．2 ICP—OES的特點

1．2．3 ICP炬焰的形成

1．2．4 ICP的裝置和炬焰結構

1．2．5 ICP激發機理

1．2．6 ICP光源的分析特性

1．2．7 高頻電源

1．2．8 進樣裝置

1．2．9 ICP炬管

1．2．10 ICP—OES光學系統和檢測系統

1．2．11 ICP—OES的干擾和干擾消除

1．2．12 樣品分析技術

1．3 FAAS、GFAAS和ICP—OES性能比較

參考文獻

第2章 x射線螢光光譜分析

2．1 引言

2．2 x射線的物理學基礎

2．2．1 X射線螢光的產生

2．2．2 x射線與物質的相互作用

2．2．3 x射線螢光的激發因子

2．3 X射線螢光譜儀

2．3．1 波長色散x射線螢光光譜儀

2．3．2 能量色散x射線螢光光譜儀

2．3．3 全反射x射線螢光光譜儀（TXRF）

2．4 定性和半定量分析

2．4．1 概述

2．4．2 定性分析

2．4．3 半定量分析

2．4．4 實際樣品半定量分析結果舉例

2．5 定量分析

2．5．1 XRF的定量分析基礎

2．5．2 元素間的吸收一增強效應

2．5．3 克服或校正元素間吸收一增強效應的方法概述

2．5．4 經驗影響係數法

2．5．5 基本參數法

2．5．6 理論影響係數法

2．5．7 小結

2．6 樣品製備

2．6．1 概述

2．6 ，2固體樣品的製備

2．6．3 粉末樣品及粉末壓片的製備

2．6．4 熔融樣品的製備

2．6．5 薄樣的製備

2．7 套用實例

2．7．1 鎳基、鐵基和鈷基合金的定量分析

2．7．2 地質樣品中多元素分析

2．7．3 PZNT晶體主量元素含量分析

參考文獻

第3章 輝光放電質譜分析

3．1 引言

3．2 輝光放電基本原理

3．2．1 輝光放電

3．2．2 輝光放電的濺射和電離

3．2．3 輝光放電質譜

3．3 儀器．

3．3．1 離子源

3．3．2 質量分析器

3．3．3 檢測系統

3．4 輝光放電質譜分析及其特點

3．4．1 樣品製備與預處理

3．4．2 分析參數的選擇與分析過程

3．4．3 半定量和定量分析

3．4．4 分析特點和性能比較

3．5 套用

3．5．1 金屬及半導體材料分析

3．5．2 非導體材料分析

3．5．3 深度分析

參考文獻

第4章 熱分析

4．1 熱分析的定義

4．2 熱分析的物理基礎

4．2．1 基本概念和基本定律

4．2．2 熱力學基本定律

4．3 物質受熱過程中發生的變化

4．3．1 熱物理性質變化

4．3．2 熱量傳遞的一般規律

4．4 熱分析方法

4．4．1 熱重法

4．4．2 差熱分析法

4．4．3 差示掃描量熱法

參考文獻

第5章 X射線衍射分析

5．1 X射線在晶體中的衍射

5．1．1 晶體的x射線衍射和布拉格定律

5．1．2 衍射線的強度

5．1．3 倒易點陣

5．1．4 倒易點陣和晶體的衍射方向

5．2 X射線物相分析

5．2．1 物相的定性分析

5．2．2 物相的定量分析

5．3 衍射圖譜的指標化和晶胞參數的精確測定

5．3．1 衍射圖譜的指標化和晶胞參數精確測定的意義

5．3．2 衍射數據指標化和晶胞參數精確測定的方法

5．3．3 用標準樣對比消除誤差的方法

5．3．4 未知相衍射線的指標化

5．3．5 x射線衍射線條的指標化和晶胞參數的精密測定（已知近似晶胞參數）

5．3．6 晶胞中分子數的求算

5．3．7 衍射數據指標化的可靠性評價

5．4 Rietveld方法及其在結構分析、定量相分析中的套用

5．4．1 粉末衍射法結構解析的困難和全譜擬合結構精修思想（Rietveld方法）的提出

5．4．2 全譜擬合的理論要點

5．4．3 利用Rietveld方法進行結構分析的實例

5．4．4 利用Rietveld方法進行定量相分析的實例

參考文獻

第6章 透射電子顯微分析

第7章 掃描俄歇電子能譜分析

第8章 電子探針、掃描電鏡顯微分析

參考文獻

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前言

在中國科學院研究生院和高等教育出版社的共同努力下，凝聚著中國科學院新老科學家、研究生導師們多年心血和汗水的中國科學院研究生院教材面世了。這套教材的出版，將對豐富我院研究生教育資源、提高研究生教育質量、培養更多高素質的科技人才起到積極的推動作用。

作為科技國家隊，中國科學院肩負著面向國家戰略需求，面向世界科學前沿，為國家作出基礎性、戰略性和前瞻性的重大科技創新貢獻和培養高級科技人才的使命。中國科學院研究生教育是我國高等教育的重要組成部分，在新的歷史時期，中國科學院研究生教育不僅要為我院知識創新工程提供人力資源保障，還擔負著落實科教興國戰略和人才強國戰略，為創新型國家建設培養一大批高素質人才的重要使命。

集成中國科學院的教學資源、科技資源和智力資源，中國科學院研究生院堅持教育與科研緊密結合的“兩段式”培養模式，在突出科學教育和創新能力培養的同時，重視全面素質教育，倡導文理交融、理工結合，培養的研究生具有寬厚紮實的基礎知識、敏銳的科學探索意識、活躍的思維和唯實、求真、協力、創新的良好素質。