溫度干擾

溫度干擾是指環境溫度的變化都會引起檢測系統的電路元器件的參數發生變化。高溫時內部材料極易氧化、乾裂或軟化，絕緣老化、元器件老化，電性能下降。低溫時內部材料收縮、變硬或發脆，引起檢測系統電性能和機械性能變壞。

另外，低溫突變，會導致儀表的結構材料變形和開裂等，特別是絕緣材料的破裂；而高溫突變，會在儀表內部電路上形成凝露，造成更大的電性能幹擾。作為檢測系統整體對環境溫度的適應能力取決於儀表中所採用的積體電路中工作溫度範圍最小的器件。