測高計

測高計廣泛運用於高地測量的各個領域。有壓力測高計，光測高計等多種類型。

正文

見太空飛行器雷達。

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申請號： 200830004894 申請日： 2008/01/31
公告號： 300903767
授權日： 2009-4-8 授權公告日： 2009-4-8
專利類別： 外觀 國別省市代碼： JP[日本]
代理機構代碼： 11105[對照表] 代理人： 馬濤 馮曉燕
發明名稱： 測高計
國際分類號： 1004
範疇分類號：
發明人： 大谷茂;淺野芳郎;小永田康博;筱原利行
申請人：三豐株式會社
申請人地址： 日本神奈川縣
郵編：
文摘：