測厚儀的工作原理有共振法、干涉法及脈衝反射法等。
基本介紹
- 中文名:測厚儀的工作原理
- 包含:共振法、干涉法及脈衝反射法等
測厚儀的工作原理有共振法、干涉法及脈衝反射法等。
測厚儀的工作原理有共振法、干涉法及脈衝反射法等。工作原理幾種,飛機票由於脈衝反射法並不涉及共振機理,與被測物表面的光潔度關係不密切,所以超音波脈衝法測厚儀是最受用戶歡迎的一種儀表。測厚儀工作原理超音波測厚儀主要有主機和探...
超音波測厚儀是採用最新的高性能、低功耗微處理器技術,基於超音波測量原理,可以測量金屬及其它多種材料的厚度,並可以對材料的聲速進行測量。可以對生產設備中各種管道和壓力容器進行厚度測量,監測它們在使用過程中受腐蝕後的減薄程度,也可以對各種板材和各種加工零件作精確測量。超音波測厚儀主要有主機和探頭兩部分...
測厚儀(thickness gauge )是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業生產中常用來連續或抽樣測量產品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計;有利用超音波頻率變化的超音波厚度計;有利用渦流原理的電渦流厚度計;還有利用機械接觸式測量...
採用磁感應原理時,利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀,原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求...
採用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材,檢測速度快,能使大量的檢測工作經濟地進行。技術原理 磁吸力測量原理 永久磁鐵(測頭)與導磁鋼材之間的吸力大小與處於這兩者之間的距離成一定比例關係,這個距離就是覆層的厚度。利用這一原理製成測厚儀,只要覆層與基材的導磁率之差足夠大,就可進行測量。鑒於大多數工業品...
SW3超音波測厚儀是一種利用超音波測試厚度的儀器,其可以自動零點校準,測量前無需人工零點校準。測厚原理 SW3超音波測厚儀是根據超音波脈衝反射原理來進行厚度測量的,當探頭髮射的超音波脈衝通過被測物體到達材料分界面時,脈衝被反射回探頭,通過精確測量超音波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。產品特點 ...
雷射測厚儀是基於三角測距原理,使用集成式的三角測距感測器測量出從安裝支架到物體表面的距離,進而根據支架的固定距離計算得出物體的厚度。雷射束在被測物體表面上形成一個很小的光斑,成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏面上,產生探測其敏感面上光斑位置的電信號。當被測物體移動時,其表面上光斑相對成像物鏡的...
工作原理 基於電磁波運動學、動力學原理和電子技術。樓板測厚儀主要由信號發射、接收、信號處理和信號顯示等單元組成,當探頭接收到發射探頭電磁信號後,信號處理單元根據電磁波的運動學特性進行分析,自動計算出發射到接收探頭的距離,該距離即為測試板的厚度,並完成厚度值的顯示,存儲和傳輸。測試方法 發射探頭與接收...
錫膏測厚儀:SPI (Solder Paste Inspection System)工作原理 安悅電子(CanYon)利用雷射投射原理,將高精度的紅色雷射(精度可達15微米)投射到印刷錫膏表面,並利用高解析度的數字相機將雷射輪廓分離出來。根據輪廓的水平波動可以計算出錫膏的厚度變化並描繪出錫膏的厚度分布圖,可以監控錫膏印刷質量,減少不良。用途 測量...
測厚儀各部件功能 1)全量程標定功能:根據程式預先設定的計算公式,通過組合不同的標樣厚度並將其置於射線下測量,以得到一組基準數據,並存於PLC中。2) 測量功能:用於實際測量,系統工作時軋制帶材通過射線照射,測量頭接收後,轉化為電壓信號,此電壓值與全量程標定模組中所儲存的基準數據相比較,通過程式中預先...
CHY-5測厚儀/紙張測厚儀 - 環境要求 1.環境溫度:15℃-50℃ 2.試驗環境:無震動,無電磁干擾 3.相對濕度:最高80%,無凝露 4.工作電源:220V50Hz CHY-5測厚儀/紙張測厚儀 - 配置 主機、測量頭 測試原理 機械接觸式測試原理,截取一定尺寸試樣,測量頭自動降落於試樣之上,在一定壓力和一定接觸面積...
利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離,即塗鍍層厚度。塗層測厚儀MC-2000D工作原理:MC-2000D型塗鍍層測厚儀採用電磁感應法測量塗(鍍)層的厚度。位於部件表面的探頭產生一個閉合的磁迴路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁迴路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一...
3D雷射測厚儀是由專用雷射器產生線型光束,以一定的傾角投射到待測量目標(錫膏)上,因為待測目標與周圍基板存在高度差,此時觀測到的目標和基板上的雷射束相應出現斷續落差。工作原理 如圖1所示。根據三角函式關係可以通過該落差間距計算出待測目標截面與周圍基板的高度差,從而實現非接觸式的快速測量。用途 SMT(...
時代超音波測量厚儀系列是集當代科技電子技術和測量技術於一體的,先進的無損檢測儀器,採用微電腦對數據時行分析、處理、顯示、採用高度最佳化的測量電路,具有測量精度高、範圍寬、操作簡便、工作穩定可靠等特點。凡能使超音波以一恆定速度在其內部傳播的各種材料均可採用此原理測量。可以對各種板材和加工零件作精確測量...
UT200超音波測厚儀可以對各種板材和加工零件作精確測量,另一重要方面是可以對生產設備中各種管道和壓力容器進行監測,監測它們在使用過程中受腐蝕後的減薄程度。廣泛套用於石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領域。原理 UT200超音波測厚儀根據超音波脈衝反射原理來進行厚度測量的,當探頭髮射的超音波脈衝通過被...
測厚儀開發日趨智慧型化 回顧塗鍍層測厚儀技術發展的歷史沿革,集中表現為如下時代技術特徵:電路設計:電子管—電晶體—積體電路—專用晶片模組化 整機功能:單原理功能型—具有部分統計功能型—雙原理通用型—智慧型型 探頭制式:主機與探頭分離式—主機與探頭一體式內置式探頭—主機配多規格探頭可供選擇、更換 量值顯示...
時代超音波測量厚儀系列是集當代科技電子技術和測量技術於一體的、先進的無損檢測儀器,採用微電腦對數據時行分析、處理、顯示,採用高度最佳化的測量電路,具有測量精度高、範圍寬、操作簡便、工作穩定可靠等特點。凡能使超音波以一恆定速度在其內部傳播的各種材料均可採用此原理測量,如金屬類、塑膠類、陶瓷類、玻璃類...
工作原理 OU1600超音波測厚儀對厚度的測量,是由探頭產生超音波脈衝透過耦合劑到達被測體,一部分超聲信號被物體底面反射,探頭接收由被測體底面反射的回波,精確地計算超音波的往返時間,並按下式計算厚度值,再將計算結果顯示出來。工作條件 環境溫度:操作溫度-20~+50℃ 存儲溫度:-30℃~+70℃ 相對...
gb/t 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法 gb/t 4957─1985 非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量 渦流方法 jb/t 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀 jjg 889─95 《磁阻法測厚儀》 jjg 818─93 《電渦流式測厚儀》測量原理 高精度塗層測厚儀採用了磁性和渦流兩種測厚...
TC100 超音波測厚儀(精密型)系列是集當代科技電子技術和測量技術於一體的、先進的無損檢測儀器,採用微電腦對數據時行分析、處理、顯示,採用高度最佳化的測量電路,具有測量精度高、範圍寬、操作簡便、工作穩定可靠等特點。凡能使超音波以一恆定速度在其內部傳播的各種材料均可採用此原理測量。可以對各種板材和加工...
UT310超音波測厚儀,配備了TSTU32鑄鐵探頭,可以測量灰鑄鐵、PE材料、尼龍材料等晶粒粗大、結構不夠緻密的材料厚度,廣泛套用於石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領域。產品描述 超音波測量厚儀根據超音波脈衝反射原理來進行厚度測量的,當探頭髮射的超音波脈衝通過被測物體到達材料分界面時,脈衝被反射回探頭...
9.零位調整:探頭放在測厚儀試塊上按鍵自動調零 10.線性校正:微處理器程式自動線性校正(即V Path 自動補償)11.報警功能:可設定限界,對限界外的測量值能自動蜂鳴報警 12.工作電壓:3V(2節AA尺寸鹼性電池串聯)13.關閉:連續2分鐘無動作自動關閉,有開關按鈕 14.顯示內容:厚度值、耦合狀態、電量狀態,可顯示CAL...
8.工作電壓:3V(2節AA尺寸鹼性電池串聯)9.持續工作時間:約100小時(不開背光時)10.外形尺寸:150×74×32 mm 11.整機重量:245g 數顯薄膜測厚儀 產品用途 數顯薄膜測厚儀主要用於測定薄膜、薄片等材料的厚度,測量範圍寬、測量精度高,具有數據輸出、任意位置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。技術指標 1....
TIME2260超音波測厚儀可對各種板材和各種加工零件進行精確測量。可廣泛套用於石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領域,更適用於高空、高危和單手操作等場合套用。標準 本儀器符合以下標準:ZB N77 001 超音波測厚儀通用技術條件 JJF 1126 超音波測厚儀校準規範 測量原理 超音波探頭髮射的超音波脈衝到達被測...
原理 雷射測厚儀是基於三角測距原理,使用集成的三角測距感測器測量出從安裝支架到物體表面的距離,進而根據之間的固定距離計算得出物體的厚度。雷射光束在被測物體表面上形成一個很小的光板,成像物鏡將該光板成像到光敏接收器的光敏面上,產生探測其敏感面上光板位置的電信號。當被測物體移動時,其表面上光板相對成像...
超音波測厚儀的工作原理 超音波測厚儀有脈衝式、共振式、蘭姆波式三種類型。在石化行業中,使用較為普遍的是脈衝反射式聲速預置型超音波測厚儀(通常採用焦距為5mm、頻率為5MHz的組合雙品直探頭)其測厚原理如圖1所示。測厚儀的發射晶片在高頻電脈衝觸發下產生超音波T。超音波透過有機玻璃延遲塊和耦合劑到達工件表面...