正電子湮沒壽命譜儀是一種用於化學、生物學、食品科學技術領域的儀器,於1970年1月1日啟用。
基本介紹
- 中文名:正電子湮沒壽命譜儀
- 產地:美國
- 學科領域:化學、生物學、食品科學技術
- 啟用日期:1970年1月1日
正電子湮沒壽命譜儀是一種用於化學、生物學、食品科學技術領域的儀器,於1970年1月1日啟用。
正電子湮沒壽命譜儀是一種用於化學、生物學、食品科學技術領域的儀器,於1970年1月1日啟用。技術指標1. 起始路和終止路: 905-21-S, BC418塑膠閃爍體探測器,8850PMT,265-S PMT; 556高壓...
正電子湮沒譜儀是一種用於核科學技術領域的核儀器,於2015年5月25日啟用。技術指標 能量解析度:1.75 keV(Co-60源1.33MeV峰) 探測效率:30% 峰谷比:105 計數率:80cps(40uCi活度Na-22,探頭間距1cm時測試) 符合單元時間...
正電子湮沒壽命譜(PALS)常被用來研究固體中的缺陷,尤其是半導體中的空位型缺陷。鄰位正電子的壽命取決於184個鄰位正電子的壽命,而鄰位正電子的壽命受鄰位正電子周圍空位缺陷的影響。因此,PALS可以看作是一種時域特徵描述技術。雙γ...
正電子在材料中居留時間即正電子湮沒壽命。正電子湮沒壽命與物質中的電子密度密切相關,正電子在材料中的射程主要決定於熱化階段和材料的密度。在一般材料中,正電子射程約在20~300 mm間。在正電子實驗中為了保證正電子在樣品中湮沒而不...
一、正電子源及其製備 二、樣品的製備 三、r射線探測器 四、電子儀器的單元特性 第二節 正電子湮沒壽命測量 一、測量原理 二、正電子湮沒壽命譜儀 三、譜儀參數選擇和標定 四、壽命譜的數據分析 五、壽命測量中若干問題的探討 第三...
共成功研製了五套性能優越的新型正電子湮沒探測譜儀,分別是電子偶素飛行時間 (Ps-TOF)譜儀、慢束上的壽命-動量關聯 (S-AMOC),三探頭壽命-動量關聯 (AMOC)譜儀、二維正電子湮沒壽命譜儀(2D-PAS)和數位化正電子湮沒壽命譜儀(...
正電子湮沒譜學,主要是進行湮沒壽命、湮沒γ都卜勒展寬、湮沒γ角關聯測量等測量。除了常規的壽命譜儀、都卜勒展寬譜儀、一維和二維角關聯譜儀,現在已經發展了雙探頭符合都卜勒展寬譜儀、能量-動量關聯譜儀。除了常規的發展了基於Na等正...
2. 一種移動式數字正電子壽命譜儀 專利號:201010270450.4 3. 正電子平均壽命分解程式,專利號:201210174938.6 4. 一種簡化數字元合都卜勒展寬譜儀 專利號:201310139599.2 六、主要獎勵:1、獲2001年鐘正強獎,科研二等獎.2、湖北省...
熱重(TG)分析,採用Netzsch公司TG-209熱重分析儀,測量溫度範圍為20℃~500℃,保護氣為氮氣,升溫速率15℃/分鐘。正電子湮滅譜,測試儀器為中國科學院高能物理研究所的高分辨正電子湮沒壽命譜儀,為快-慢符合的常規正電子湮沒壽命譜...