極低溫掃描隧道顯微鏡系統

極低溫掃描隧道顯微鏡系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2015年12月16日啟用。

基本介紹

• 中文名：極低溫掃描隧道顯微鏡系統
• 產地：中國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2015年12月16日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 電子探針

技術指標

1.真空腔：4個（快速進樣室、製備室、交換室、掃描隧道顯微鏡室）；2.真空度：1.0#215;10的負10次方Torr以下；3.最大掃描範圍X,Y,Z=600#215;600#215;300nm（0.4K下）；4.磁場強度：垂直磁場12T;5.最低溫度：0.4K。

主要功能

該分子束外延-掃描隧道顯微鏡聯合系統主要用於低維量子結構的製備和表征。