材料分析方法（第3版）

內容簡介

本書主要包括材料X射線衍射分析和材料電子顯微分析兩大部分。書中介紹了用X射線衍射和電子顯微技術分析材料微觀組織結構的原理、設備及試驗方法。其內容包括：X射線物危頸朽理學基礎、X射線衍射方向與強度、多晶體分析方法、物相分析及點陣參數精確測定、巨觀殘餘應力的測定、多晶體織構的測定、電子光學基礎、透射電子顯微鏡、電子衍射、晶體薄膜衍襯成像分析、高分辨透射電子顯微術、掃描電子顯微鏡、電子背散射衍射分析技術、電子探針顯微分析、其他顯微結構分析方法及實驗指導。

圖書目錄

第3版前言

第2版前言

第1版前言

緒論1

第一篇材料X射線衍射分析3

第一章X射線物理學基礎5

第一節X射線的性質5

第二節X射線的產生及X射線譜6

第三節X射線與物質的相互作用9

習題15

第二章X射線衍射方向17

第一節晶體幾何學簡介17

第二節布拉格方程22

第三節X射線衍射方法28

習題29

第三章X射線衍射強度31

第淋坑一節多晶體衍射圖相的形成31

第二節單位晶胞對X射線的恥抹擔散射與

結構因數32

第三節洛倫茲因數35

第四節影響衍射尋仔寒強度的其他因數36

第五節多晶體衍射的積分強度公式38

習題38

第四章多晶體分析方法40

第一節德拜謝樂法40

第二節其他照相法簡介45

第三節X射線衍射儀47

習題54

第五章物相分析及點陣參數精確

測定55

第一節定性分析55

第二節定量分析59

第三節點陣參數的精確測定62

第四節非晶態物質及其晶化過程的X射

線衍射分析66

習題70

第六章巨觀殘餘應力的測定71

第一節物體內應力的產生與分類71

第二節X射線巨觀應力測定的

基本原理72

第三節巨觀應力測定方法75

第四節X射線巨觀應力測定中的

一些問題80

習題84

第七章多晶體織構的測定85

第一節極射赤面投影法85

第二節織構的種類和表示方法89

第三節絲織構指數的測定95

第四節極圖的測定96

第五節反極圖的測定100

習題102

第二篇材料電子顯微分析103

第八章電子光學基礎105

第一節電子波與電磁透鏡105

第二節電磁透鏡的像差與解析度108

第三節電磁透鏡的景深和焦長111

習題112

第九章透射電子顯微鏡113

第一節透射電子顯微鏡的結構與成像

原理113

第二節主要部件的結構與工作原理117

第三節透射電子顯微鏡解析度和放大倍數

的測定119

習題121

第十章電子衍射122

第一節概述122

第二節電子衍射原理123

第三節電子顯微鏡中的電子衍射131

第四節單晶體電子衍射花樣標定135

第五節複雜電子衍射花樣137

習題140

第十一章晶體薄膜衍襯成像分析141

第一節概述141

第二節薄膜樣品的製備方法141

第三節衍射襯度成像原理144

第四節消光距離146

第五節衍襯運動學147

第六節衍襯動力學簡介154

第七節晶體缺陷分析157

習題165

第十二章高分辨透射電子顯微術166

第一節高分辨透射電子顯微鏡的結構

特徵166

第二節高分辨電子顯微像的原理167

第三節高分辨透射電子顯微鏡在材料科

學中的套用176

習題183

第十三章掃描電子顯微鏡184

第一節電子束與固體樣品作用時產生

的信號184

第二節掃描電子顯微鏡的構造和工作

原理186

第三節掃描電子顯微鏡的主多舟協雄照趨府要性能189

第四節表面形貌襯度原理及其套用190

第五節原子序數襯度原理及其套用195

習題198

第十四章電子背散射衍射分析

技術199

第一節概述199

第二節電子背散射衍射技術相關晶體學

取向基礎199

第三節電子背散射衍射技術硬體系統209

第四節電子灑煮臘漏背散射衍射技術原理及花樣

標定211

第五節電子背散射衍射技術成像及

分析215

第六節電子背散射衍射技術數據處理220

習題224

第十五章電子探針顯微分析225

第一節電子探針儀的結構與工作原理225

第二節電子探針儀的分析方法

及套用229

習題231

第十六章其他顯微結構分析方法232

第一節離子探針顯微分析232

第二節低能電子衍射分析234

第三節俄歇電子能譜分析238

第四節場離子顯微鏡與原子探針243

第五節掃描隧道顯微鏡與原子力

顯微鏡248

第六節X射線光電子能譜分析254

第七節紅外光譜257

第八節雷射拉曼光譜264

第九節紫外可見吸收光譜268

第十節原子發射光譜272

第十一節原子吸收光譜276

第十二節核磁共振279

第十三節電子能量損失譜285

第十四節掃描透射電子顯微鏡288

習題289

實驗指導291

實驗一單相立方系物質X射線粉末相

計算291

實驗二用X射線衍射儀進行多晶體物質

的相分析292

實驗三巨觀殘餘應力的測定296

實驗四金屬板織構的測定300

實驗五透射電子顯微鏡結構原理及明

暗場成像303

實驗六選區電子衍射與晶體取向分析306

實驗七掃描電子顯微鏡的結構原理及圖像

襯度觀察311

實驗八電子背散射衍射技術的工作原理

與菊池花樣觀察及標定315

實驗九電子背散射衍射技術的數據處理

及其分析套用318

實驗十電子探針結構原理及分析

方法321

附錄324

附錄A物理常數324

附錄B質量吸收係數μl/ρ324

附錄C原子散射因數f325

附錄D各種點陣的結構因數F2HKL326

附錄E粉末法的多重性因數Phkl326

附錄F角因數1+cos22θsin2θcosθ327

附錄G德拜函式(x)x+14之值329

附錄H某些物質的特徵溫度Θ329

附錄I12cos2θsinθ+cos2θθ的數值330

附錄J應力測定常數332

附錄K立方系晶面間夾角333

附錄L常見晶體標準電子衍射花樣336

附錄M立方與六方晶體可能出現

的反射340

附錄N特徵X射線的波長和能

量表341

參考文獻343

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基本介紹

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