晶體分析儀

晶體分析儀，該X射線晶體分析儀，主要用於研究物質內部微觀結構。如：單晶定向、檢驗缺陷、物質定性、測定點陣參數、測定殘餘應力等。

基本介紹

• 中文名：晶體分析儀
• 穩定度：±1%
• 功  率：2KW
• 電  源：AC220V  50HZ  30A

主要參數：

電 源：AC220V 50HZ 30A

功 率：2KW

靶 材：Cu（可選其他靶材）

管電壓：50KV（分檔可調）

管電流：50mA（分檔可調）

穩定度：±1%

保 護：過功率、過電壓、過電流、無水

冷 卻：循環水、製冷水箱

防 護：鉛有機玻璃防護罩

相 機：

a)德拜相機（粉沫相機）大、小兩種

b)勞厄相機（平板相機）

上述兩種相機，用戶可自選配置

尺 寸：長1000mm×寬780mm×高1050mm

（加防護罩1800mm）

重 量：320公斤

水 泵：長800mm×寬500mm×高700mm